型號/規(guī)格:TPYLR-5003072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
產品描述:TPYLR-500型橢偏儀冷熱臺 橢偏儀作為一種非破壞性、高精度的光學表征設備,廣泛應用于薄膜厚度、折射率、吸收系數(shù)等材料參數(shù)的測量。然而,橢偏儀的測量精度...
型號/規(guī)格:FILM102#$%^103#$貿易商%^139#$全新%^104#$
產品描述:Film Sense 多波長橢偏儀通過簡單的 1 秒測量,可以以極高的精度和精度測定大多數(shù)透明薄膜的薄膜厚度和折射率并對許多樣品進行光學常數(shù) n&k 等薄膜性質的測量...
型號/規(guī)格:HORIBA 橢圓偏振光譜儀
產品描述:HORIBA橢偏儀 橢圓偏振光譜儀 HORIBA 橢圓偏振光譜儀Auto SE & Smart SE 是一種新型薄膜測量工具。需簡單的幾個按鈕,幾秒鐘內即可自動完成樣品測量和分析,...
型號/規(guī)格:HORIBA 橢圓偏振光譜儀
產品描述:HORIBA橢偏儀 橢圓偏振光譜儀 HORIBA 橢圓偏振光譜儀Auto SE & Smart SE 是一種新型薄膜測量工具。需簡單的幾個按鈕,幾秒鐘內即可自動完成樣品測量和分析,...
型號/規(guī)格:SpecEl-2000-VIS
產品描述:SpecEl-2000-VIS橢偏儀通過測量基底反射的偏振光,進而測量薄膜厚度及材料不同波長處的折射率。SpecEl通過PC控制來實現(xiàn)折射率,吸光率及膜厚的測量。
型號/規(guī)格:SpecEl-2000-VIS
產品描述:SpecEl-2000-VIS橢偏儀通過測量基底反射的偏振光,進而測量薄膜厚度及材料不同波長處的折射率。SpecEl通過PC控制來實現(xiàn)折射率,吸光率及膜厚的測量。
型號/規(guī)格:HG-EM
產品描述:光伏/科研通用兩種應用選擇 HG-EM激光橢偏儀是針對光伏太陽能電池高端研發(fā)和質量控制領域推出的型多入射角激光橢偏儀。可廣泛應用于晶體硅太陽電池、薄膜...
型號/規(guī)格:HG-EM
產品描述:光伏/科研通用兩種應用選擇 HG-EM激光橢偏儀是針對光伏太陽能電池高端研發(fā)和質量控制領域推出的型多入射角激光橢偏儀??蓮V泛應用于晶體硅太陽電池、薄膜...
型號/規(guī)格:FE-5000
產品描述:400波長以上的多頻分光法,量測出橢圓偏光光譜。 自由變換反射量測角度,可得到更詳細的薄膜解析數(shù)據。 反射角度自動可變的測量方式,對薄膜測量有更高的分析...
型號/規(guī)格:FE-5000
產品描述:400波長以上的多頻分光法,量測出橢圓偏光光譜。 自由變換反射量測角度,可得到更詳細的薄膜解析數(shù)據。 反射角度自動可變的測量方式,對薄膜測量有更高的分析...
Semilab – Sopra橢偏儀 GES5E 薄膜厚度、n值及k值的測量
型號/規(guī)格:Sopra GES5E102#$%^103#$制造商%^139#$全新%^104#$法國
產品描述:儀器簡介: 應用: ◆ 薄膜厚度、n值及k值的測量,可應用于任何薄膜生長或者鍍膜工藝的監(jiān)控。 技術參數(shù): Sopra公司是世界上的橢偏儀設備供應...
Semilab – Sopra橢偏儀 GES5E 薄膜厚度、n值及k值的測量
型號/規(guī)格:Sopra GES5E102#$%^103#$制造商%^139#$全新%^104#$法國
產品描述:儀器簡介: 應用: ◆ 薄膜厚度、n值及k值的測量,可應用于任何薄膜生長或者鍍膜工藝的監(jiān)控。 技術參數(shù): Sopra公司是世界上的橢偏儀設備供應...
型號/規(guī)格:HG-ES18#$衡工%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京
產品描述:HG-ES光譜橢偏儀是針對光伏太陽能電池研發(fā)和質量控制領域推出的高性能光譜橢偏儀。 HG-ES光譜橢偏儀用于測量和分析光伏領域中多層納米薄膜的層構參數(shù)(如,...
型號/規(guī)格:HG-ES18#$衡工%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京
產品描述:HG-ES光譜橢偏儀是針對光伏太陽能電池研發(fā)和質量控制領域推出的高性能光譜橢偏儀。 HG-ES光譜橢偏儀用于測量和分析光伏領域中多層納米薄膜的層構參數(shù)(如,...