光譜橢偏儀(PH-SE型)針對太陽能電池應(yīng)用，可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也出色。 針對太陽能電池應(yīng)用的光譜橢偏儀基于的橢偏光路設(shè)計(jì)，高靈敏度探測單元和光譜橢偏儀分析軟件，可測量各種太陽能電池的薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)，光學(xué)帶寬等。
光譜橢偏儀 - 產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 連續(xù)波長的光源為用戶提供了更大的應(yīng)用空間
■ 更簡便快捷的樣品準(zhǔn)直方法
■ 軟件具備豐富的材料數(shù)據(jù)庫
■ 允許用戶自定義色散模型，更方便用戶研究新材料的光學(xué)性質(zhì)
■ 全波長多角度同時(shí)數(shù)據(jù)擬合，EMA模型用戶多成分化合物和表面粗糙度分析
■ 具有實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和模擬數(shù)據(jù)三維繪圖功能
■ 光譜范圍寬達(dá)250 - 1100nm (可擴(kuò)展至250-1700nm)
■ 大的光譜橢偏測量與分析軟件
光譜橢偏儀 - 產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 連續(xù)波長的光源為用戶提供了更大的應(yīng)用空間
■ 更簡便快捷的樣品準(zhǔn)直方法
■ 軟件具備豐富的材料數(shù)據(jù)庫
■ 允許用戶自定義色散模型，更方便用戶研究新材料的光學(xué)性質(zhì)
■ 全波長多角度同時(shí)數(shù)據(jù)擬合，EMA模型用戶多成分化合物和表面粗糙度分析
■ 具有實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和模擬數(shù)據(jù)三維繪圖功能
■ 光譜范圍寬達(dá)250 - 1100nm (可擴(kuò)展至250-1700nm)
■ 大的光譜橢偏測量與分析軟件
