用于分析的創(chuàng)新技術(shù)
FEI Tecnai 系列透射電子顯微鏡 (TEMs) 旨在為生命科學(xué)、材料科學(xué)和電子行業(yè)提供真正完整的成像和分析解決方案。 Tecnai G2 系列擁有數(shù)種型號(hào)，結(jié)合了現(xiàn)代技術(shù)和創(chuàng)新科學(xué)和工程團(tuán)體的緊迫需求。
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| 產(chǎn)品 | 電子 源 (kV) | 放大倍數(shù) | 樣品 臺(tái) | 相機(jī) 長(zhǎng)度 (mm) | EDS 立體 角 (srad) |
| Tecnai Osiris | 20 - 200 kV | 22 x - 930 kx (TEM) | X = ± 1 mm Y = ± 1 mm Z = ± 0.375 mm | 30 - 4,500 | 0.9 |
| Tecnai 30 | 50 - 300 kV | 58 x - 970 kx (TEM) 100 x - 5Mx (STEM) | X = ± 1 mm Y = ± 1 mm Z = ± 0.375 mm | 80 - 5,600 | 0.13 |
| Tecnai F30 | 50 - 300 kV | 58 x - 970 kx (TEM) 150 x - 230 Mx (STEM) | X = ± 1 mm Y = ± 1 mm Z = ± 0.375 mm | 80 - 5,600 | 0.13 |
| Tecnai Spirit | 20 - 120 kV | 18 - 650,000 (TEM) | X、Y 移動(dòng) 2 mm 樣品尺寸 3 mm | n/a | n/a |
| Tecnai Polara | 50 - 300 kV | 18 - 650,000 (TEM) | X、Y 移動(dòng) 2 mm 樣品尺寸 3 mm | n/a | n/a |
主要優(yōu)點(diǎn)
• 高性能 TEM 成像、STEM 成像和納米分析
• 革命性的 EDX ChemiSTEM™ 分析性能和杰出的 TEM 和 STEM 成像質(zhì)量 (Tecnai Osiris)
• 同步數(shù)據(jù)記錄、嵌入式 STEM、CCD 相機(jī)、EDX 探測(cè)器、EELS 電子能量損失譜儀和能量過濾器 (Tecnai G2 F20/30)
• 穩(wěn)定的低偏差、液氦冷卻樣品桿、精密的高傾角 (± 70°) 旋轉(zhuǎn)樣品桿，廣泛的多樣品定向記錄（二維電子晶體學(xué)和高分辨率細(xì)胞斷層攝影） (Tecnai™ G2 Polara)
• 雙軸斷層攝影、自動(dòng)化和優(yōu)化的冷沉淀電子顯微鏡整體解決方案。 (Tecnai Spirit)
