在結(jié)構(gòu)研究中, 大量的樣品需要在高放大倍數(shù)、更多細(xì)節(jié)的水平上進(jìn)行觀察和分析。同時(shí), 隨著樣品種類(lèi)的不斷增多(如: 低原子序數(shù)材料, 不導(dǎo)電材料等), 需要掃描電子顯微鏡提供優(yōu)異的低加速電壓性能, 以獲得高質(zhì)量的真實(shí)表面圖像。Inspect F50 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡系統(tǒng)就是根據(jù)這一要求而設(shè)計(jì)的。它還提供了低加速電壓的背散射電子圖像, 薄樣品的暗場(chǎng)/明場(chǎng)STEM(掃描透射)像。Inspect F50 系統(tǒng)操作和維護(hù)方便, 同時(shí)可安裝各種掃描電鏡的附件(如: 能譜儀系統(tǒng), 波譜儀系統(tǒng), EBSD等等)。Inspect F50 是一款經(jīng)典的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡。
技術(shù)參數(shù)：
1.燈絲: 超高亮度Schottky場(chǎng)發(fā)射燈絲
2.分辨率：1.0 nm @ 30 kV, 3.0 nm @ 1 kV
二次電子:
1.0 nm @ 30 kV, 3.0 nm @ 1 kV
減速模式 2.3nm @ 1kV, 3.1nm @ 200V (可選項(xiàng))
背散射電子:
2.5nm @ 30kV
3.加速電壓：200 V - 30 kV, 連續(xù)可調(diào)
4.探測(cè)器：E-T二次電子探測(cè)器，可選背散射探測(cè)器
5. 50x50mm 4軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)全對(duì)中樣品臺(tái)
主要特點(diǎn)：
1.分子泵 + 離子泵真空系統(tǒng)
2.高穩(wěn)定性、超高亮度場(chǎng)發(fā)射燈絲，滿(mǎn)足高分辨觀察和微觀分析的要求
3.可選FEI獨(dú)特的STEM探測(cè)器，分辨率達(dá)到0.8nm
4.穩(wěn)定的大束流(200nA)確保高速、準(zhǔn)確的能譜、波譜和EBSD分析
5.Windows XP操作系統(tǒng)
