TEM數(shù)據(jù)分析

項目簡介

TEM數(shù)據(jù)分析可以標定晶格間距、標定衍射花樣等。分析方法主要是對照文獻以及平時積累的晶體學和電鏡知識，分析老師經(jīng)驗豐富，利用TEM分析發(fā)表過多篇高檔文章。

服務須知：  數(shù)據(jù)分析是基于您給的這個測試數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)本身反映什么信息就是什么信息。

樣品要求

數(shù)據(jù)要求：圖片請盡量提供DM3格式的原始文件以及XRD數(shù)據(jù)對應的PDF卡片，高質量的高分辨圖片

本公司可進行以下各類儀器測試：EXAFS、球差電鏡、冷凍電鏡、原位透射、原位XRD、原位拉曼、原位紅外、原位XPS、原位EBSD、穆斯堡爾譜、TOF-SIMS、fS-TAS、球差電鏡、FIB、TEM度(可離子減薄、雙噴、FIB制樣)、磁性HRTEM、SAED、MAPPING、原位TEM、三維重構等。SEM（冷場/熱場超高分辨，10-20萬倍(云直播) ），EBSD 機械拋光/電解拋光/氬離子拋光+原位EBSD測試 。AFM 、形貌、楊氏模量、KPFM、PFM、EFM、CAFM等。工業(yè)CT 、EPMA 、三維輪廓儀、共聚焦顯微鏡。常規(guī)XRD、原位XRD、UPS、單晶、XRF、SAXS。能譜XPS、TOF-SIMS、俄歇電子譜輝光質譜。 光譜 紅外、拉曼、紫外、熒光、圓二色譜、吡啶紅外、fs-TAS。物理吸附、化學吸附、壓汞。核磁 液體核磁、固體核磁、ESR/EPR穆斯堡爾譜。成分分析 ICP-OES、ICP-MS 、IC、 EA 、TOC、 C/S 。熱分析 TG-DSC TG-MS 、TG-IR、 熱膨脹TMA、 DMA 、比熱容 、導熱系數(shù) 。錐形量熱儀 、極限氧指數(shù)、 UL94燃燒 。色譜質譜 GPC 、MS 、HPLC 。水分測定 GC-MS 、PY-GC-MS、 MALDI TOF-MS。物性測試 VSM、 SQUID 、PPMS 。粒度 ZETA 、固體ZETA 接觸角。粘度 、矢量網(wǎng)絡 、水分測定、 霍爾效應 、塞貝克系數(shù)、 流變儀 、電導率、 阻抗 、肖特基 、光電流、 SPV 、電磁屏蔽 、介電、 透氣性測試 。力學性能 納米壓痕、 微米劃痕、 拉伸 、疲勞 、沖擊、 殘余應力、 硬度。

單位旗下?lián)碛兴痉ㄨb定實驗室、未知物鑒定實驗室、理化分析實驗室、材料測試實驗室、藥物研發(fā)實驗室等，提供化學測試、生物實驗外包、環(huán)境檢測、模擬計算、科研繪圖、論文潤色在內的各類科研服務。