常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析
常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析
常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析可以做結(jié)晶度計算，晶粒尺寸計算，物相鑒定，晶面標注，全巖/黏土分析。
結(jié)晶度計算說明：
相對結(jié)晶度的計算采用如下公式
式中：Ic為結(jié)晶峰的積分強度，Ia為非晶峰的積分強度；計算過程中，將半高寬（FWHM）大于3°的衍射峰標定為非晶峰。
擬合軟件為Jade，將數(shù)據(jù)導(dǎo)入Jade，對測試范圍內(nèi)的衍射峰進行全譜擬合，使用pseudo-Voigt函數(shù)描述衍射峰；對于有PDF的物相，直接使用PDF進行擬合；如無，采用直線背地，尋峰并進行擬合。最終得出結(jié)晶峰以及非晶峰積分面積數(shù)值，進行結(jié)晶度計算。
晶粒尺寸計算說明：
晶粒尺寸的計算采用謝樂公式：
式中：D為晶粒尺寸（nm）；K為Scherrer常數(shù)，其值為0.89；B為積分半高寬度，θ為衍射角；λ為X射線波長，為0.154056 nm 。
定量分析說明：
先用 PANalytical Highscore Plus? (V4.8) 軟件，ICDD PDF 4+ 2019數(shù)據(jù)庫對數(shù)據(jù)進行物相鑒定，得到物相信息。然后利用TOPAS V6軟件，采用Rietveld法進行定量分析(QPA)。此方法為外標定量法，采用高結(jié)晶性（99wt%）剛玉樣品作為標準。
