IC半導體器件 _X-RAY透視檢測儀_日聯(lián)科技

80-90KV 15-5μm X射線源，F(xiàn)PD平板探測器； 多功能載物平臺； X光管、探測器上下升降，便捷目標點導航系統(tǒng)； 多功能DXI影像系統(tǒng)，可編程檢測； 載物區(qū)域420*420mm，檢測區(qū)域380*380mm, 1000X系統(tǒng)放大倍數(shù)； BGA空洞比率自動測算，并生成。

產(chǎn)品特點：
● 80-90KV 15-5μm X射線源，F(xiàn)PD平板探測器；
● 多功能載物平臺；
● X光管、探測器上下升降，便捷目標點導航系統(tǒng)；
● 多功能DXI影像系統(tǒng)，可編程檢測；
● 載物區(qū)域420*420mm，檢測區(qū)域380*380mm, 1000X系統(tǒng)放大倍數(shù)；
● BGA空洞比率自動測算，并生成。

應用領域：
● LED、SMT、BGA、CSP、倒裝芯片檢測；
● 半導體、封裝元器件、電池行業(yè)；
● 電子元器件、汽車部件、光伏行業(yè)；
● 鋁壓鑄模鑄件、模壓塑料；
● 陶瓷制品等行業(yè)的檢測。

X-RAY透視檢測儀 X-RAY透視檢測儀 X-RAY透視檢測儀

檢測圖片：

Recent-2015年 2016 公共X光機進入郵政、物流、交通等領域

2014-2012年 2014 成像器研發(fā)生產(chǎn)

2014-2012年 2012 承擔“02”專項

2011-2009年 2010 微聚焦精密X光管研發(fā)

2008-2002年 2007 X-RAY檢測裝備研發(fā)生產(chǎn)

2008-2002年 2004 電子行業(yè)設備出口