ST-Thermal_X 功率器件熱特性測試
可測試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的熱特性
試驗?zāi)芰?/p>
? 功率循環(huán) · 秒級 / Pcsec
? 功率循環(huán) · 分鐘級 / PCmin
? 被動循環(huán) / TC
? 熱阻()/ Rth/Zth
? K曲線 / Kcurve
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