X-Strata920-P全自動(dòng)膜厚測(cè)試儀性能：

測(cè)厚范圍：取決于具體的應(yīng)用。
測(cè)量：
1.膜厚≤20μin時(shí)，測(cè)量誤差值為：層（上層）±1μin，第二層±2μin，第二層±3μin
2.膜厚＞20μin時(shí)，測(cè)量誤差值為：層（上層）±5%，第二層±10%，第二層±15%

X-Strata920-P全自動(dòng)膜厚測(cè)試儀鐳射聚焦系統(tǒng)：

1.自動(dòng)定位X射線光管/探測(cè)器與樣品到測(cè)試距離，

2.單擊鼠標(biāo)，Z軸自動(dòng)掃描，

3.Z軸自動(dòng)聚焦到焦距12.7mm，同時(shí)將樣品圖像定焦（顯示在屏幕上），

4.一鍵定焦，避免了人為操作誤差

牛津鍍層測(cè)厚儀X-Strata920：是X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，利用X射線照射產(chǎn)品，產(chǎn)品的不同元素產(chǎn)生不同的X射線熒光，儀器分析X射線熒光的波長(zhǎng)和能量，從而計(jì)算出不同元素的膜厚。是牛津儀器新開(kāi)發(fā)的新一代鍍層測(cè)厚儀；是CMI900的升級(jí)換代產(chǎn)品，系統(tǒng)軟件、硬件均進(jìn)行了更新。具有非破壞、非接觸、測(cè)量的能力；一鍵定焦，避免人為操作誤差；快速簡(jiǎn)潔，需10秒即可得出測(cè)量結(jié)果；測(cè)量輸出多樣化。標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)面鍍層膜厚儀適用于大多數(shù)行業(yè)，價(jià)格優(yōu)惠，是質(zhì)量控制、節(jié)約成本的檢測(cè)工具。

X-Strata920-P全自動(dòng)膜厚測(cè)試儀在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出卓越的分析能力，可進(jìn)行多鍍層厚度的測(cè)量。X-Strata920 為這些行業(yè)提供了：

1.以更的過(guò)程控制來(lái)生產(chǎn)力

2有助電鍍過(guò)程中的生產(chǎn)成本小化、產(chǎn)量化

3快速地分析珠寶及其他合金

4快速分析多達(dá)5層鍍層

5經(jīng)行業(yè)的技術(shù)和性，每年都帶來(lái)收益

6操作簡(jiǎn)單，要簡(jiǎn)單的培訓(xùn)