技術(shù)參數(shù)

波長范圍:120 – 800nm。
 
實(shí)際光學(xué)分辨率(實(shí)測譜線半峰寬):≤0.010nm (160-430nm), ≤0.018nm (430-800nm)。

光學(xué)系統(tǒng): 恒溫設(shè)計(jì), 0.64米焦距, 采用背對背雙面4343/2400 刻線/毫米 離子刻蝕全息閃耀光柵, 低的散射光 (1×10-7), 使用光光譜分析。 

檢測器:  2048X512像素, 背照式CCD檢測器, 像素尺寸13.5x13.5 μm, -30℃下工作，在工作溫度下(-30℃) 無須吹掃高純度保護(hù)氣流, 滿阱容量100,000個(gè)電子, 1MHz頻率, 低讀出噪聲6 e- r.m.s., 暗電流小于0.025電子/象素/秒。

等離子體觀測方式:  側(cè)向(徑向)關(guān)測, 炬管垂直放置。 

發(fā)生器: 固態(tài)式發(fā)生器, 頻率為40.68MHz, 頻率波動 ±1KHz, 功率 750W – 1550W, 功率波動 ±0.1%。 

炬管:  3mm 大口徑內(nèi)管, 采用可拆卸式外/中/內(nèi)炬管設(shè)計(jì)。 

進(jìn)樣系統(tǒng):  恒溫, 旋流霧室配備玻璃霧化器 (標(biāo)準(zhǔn)配置), 可以直接進(jìn)樣30% 的高鹽溶液。

全譜系統(tǒng):  可以采集光譜信息，進(jìn)行定性、半定量和定量分析, 并可作回溯性分析。 

氣體消耗量: 低的總氣體消耗(氬氣)量 ≤14L/分鐘。 

短期穩(wěn)定性: 連續(xù)測量11次，RSD≤1%。 

長期穩(wěn)定性:  每10分鐘測量，連續(xù)測量4小時(shí)，RSD≤2%。

主要特點(diǎn)

        新型全自動Aiva-M電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀, 采用專為科研性光譜學(xué)而設(shè)計(jì)的傳感器, 為一噪聲CCD固態(tài)檢測器ICP光譜儀, 涵蓋寬廣的光譜分析范圍 (120 – 800nm), 適合于各類型分析應(yīng)用; 并包括Cl, Br, I 等真空紫外元素波長的分析, 對正常波長范圍內(nèi) (160 – 800nm) 的元素光譜干擾問題提供了一個(gè)波段免除光譜干擾的可能性。 

        高分辨率模式在120-430nm光區(qū)的光譜分辨率<10pm。 模式在120-800nm光區(qū)的光譜分辨率<18pm。 

        檢測器具強(qiáng)大溢出功能, 好的實(shí)際動態(tài)范圍，達(dá)107，至5個(gè)數(shù)量級的線性響應(yīng)范圍。采用AIMO (Advanced Inverted Mode Operation), 低暗電流，具有大的阱容量 (象素電荷儲存量)。
采用高技術(shù)電子線路，內(nèi)含Rapid ChipTM組件。 

        采用好的垂直炬管徑向觀測與高亮度，光學(xué)系統(tǒng)相結(jié)合，可以徑向觀測等離子體的整個(gè)正常分析區(qū)（不同類型的樣品分析不受限制）。 

        等離子體室空間大，炬管、霧室裝置為卡式結(jié)構(gòu)、拆卸、安裝便捷，無需任何調(diào)節(jié)。寬闊的樣品導(dǎo)入?yún)^(qū)，具有便利可向下折疊的腐蝕樣品托盤。 

         Smart Hood（智能化排風(fēng)裝置）等離子體區(qū)的排風(fēng)、方便，并降低了安裝成本。 

          的S³-base (Single-element Spera, Speroscopic data) ICP譜線數(shù)據(jù)庫有助于在120-800nm范圍內(nèi)選用ICP譜線。 

          完整的全自動多譜線及性分析概念, 使用大的多譜線分析工具 IMAGE (full sperum acquisition tool) & MASTER (Multi-line Analysis, Seleion Tool for Enhanced Reliability) 加上統(tǒng)計(jì)學(xué)上的分析工具CALSTAT & SOS (Statistical Outlier Survey), 了后分析結(jié)果的性。 

         大的AIVAnalyst 軟件擴(kuò)展了以CCD為檢測器的AnalystTM ICP 軟件的功能, 具備多種選購件及供儀器升級用的部件。
         本系統(tǒng)可于一個(gè)光譜視窗內(nèi)同時(shí)測量多波長及其背景，提供多元素的率分析。將相鄰的光譜視窗加合起來，系統(tǒng)即可覆蓋100% 的光譜范圍。

儀器介紹

         AIVA–M 是基于“A platform for the future TM”（未來平臺）設(shè)計(jì)理念，使用率背照式 CCD 為檢測器的 ICP–A 光譜儀。它保留了 HORIBA Jobin Yvon 光譜儀的一貫優(yōu)勢，又引入了的 CCD（電荷耦合元件）技術(shù)，從而了儀器的質(zhì)量和靈。

         AIVA–M 對 ICP 分析工作者提供了一個(gè)不同的 ICP 分析概念, 不同于時(shí)下的其他 CCD ICP, 多譜線分析需由人為判斷是否有光譜干擾及終人為選擇譜線及確認(rèn)分析結(jié)果, AIVA-M 提供了一個(gè)全自動化對譜線選擇及光譜干擾的判斷, 加上完整統(tǒng)計(jì)上的校正曲線自動判斷, 了后分析結(jié)果的性. 本機(jī)使用過 50,000 條 HJY 專屬的ICP 譜線資料庫 (S3-base, Single element Spera, Speroscopic data) 為分析譜線基準(zhǔn), 利用專屬的 IMAGE 全譜定性半定量系統(tǒng), 無需任何標(biāo)準(zhǔn)溶液, 對未知樣品進(jìn)行快速半定量分析, 獲得各元素的濃度范圍。將基體元素濃度及欲分析元素濃度輸入至 MASTER 軟件后, 不需進(jìn)行任何上機(jī)分析或 sperum profiling, 即可快速由軟件多譜線視窗中看到譜線之光譜干擾及可采用的元素分析譜線, 并自動匯出建立完整的全定量分析方法。 經(jīng)此全定量方法, 建立校正曲線, 并經(jīng)由 CALSTAT 對此工作曲線進(jìn)行統(tǒng)計(jì)學(xué)上的自動判斷, 以曲線的合理性并開始進(jìn)行樣品分析。 然后經(jīng)由 SOS (Statistical Outlier Survey) 自動對多譜線分析結(jié)果進(jìn)行篩選, 以后分析結(jié)果的性。 

         由于AIVA-M 擁有寬廣的光譜范圍及優(yōu)異的恒定光學(xué)分辨率, 加上的“完整”多譜線分析觀念, 使本機(jī)適合研發(fā)及質(zhì)管上各樣品種類的分析利器。