產(chǎn)品：
　　HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強(qiáng)大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、傷、高分辨率的多功能掃描測(cè)試，其通過微波光電衰退特性原理來測(cè)量非平衡載流子壽命的，并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進(jìn)行處理。少子壽命測(cè)試量程從0.1μs到30ms，電阻率要求范圍：0.1-1000Ω。cm，，是太陽能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)得的測(cè)量儀器。
　　
　　產(chǎn)品特點(diǎn)
　　■無接觸和傷測(cè)量
　　■自動(dòng)測(cè)量，具有傳送系統(tǒng)，可進(jìn)行連續(xù)測(cè)量
　　■快速測(cè)量，測(cè)試掃描速度2000mm/min
　　■測(cè)試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測(cè)量
　　■主要應(yīng)用于硅棒硅塊、硅片的進(jìn)廠、出廠檢查，生產(chǎn)工藝過程中屬沾污和缺陷的監(jiān)控等。
　　■，地降低了企業(yè)的測(cè)試成本。
　　
　　推薦工作條件
　　■溫度：18-26℃
　　■濕度：10%~80%
　　■大氣壓：750&plun;30毫米汞柱
　　
　　技術(shù)指標(biāo)
　　■少子壽命測(cè)試范圍：0.1μs-30ms
　　■測(cè)試掃描速度：2000mm/min
　　■測(cè)試尺寸：215mm*215mm*500mm
　　■電阻率范圍：0.1Ω。cm-1000Ω。cm
　　■激光波長：904，測(cè)試功率范圍：50-500mw
　　■硅棒硅塊掃描間距：≥1mm
　　■儀器測(cè)試：&plun;3.5％，信號(hào)處理偏差≤2％
　　■工作頻率：10GHz&plun;0.5
　　■微波測(cè)試單元功率：0.01W&plun;10%
　　■電源：～220V 50Hz 功耗＜200W
　　■主機(jī)尺寸：365mm*645mm*565mm
　　■主機(jī)重量：30KG