HT 系列高解析度X光探傷儀主要使用于BGA、CSP、flip chip、半導(dǎo)內(nèi)部以及多層電路板的質(zhì)量檢測(cè),并能快捷清晰地檢測(cè)電路板的焊接情況,適用生產(chǎn)過(guò)程的質(zhì)量檢測(cè)和返修后的質(zhì)量檢測(cè)。HT包括一個(gè)基于Windows系統(tǒng)平臺(tái)的工作臺(tái)(HT-1000),并配有圖像多樣采集功能,能夠做到圖像同步采集與分析。HT光機(jī)體現(xiàn)了ELT設(shè)計(jì)中的集使用簡(jiǎn)便、圖像清晰、價(jià)格合理的理念。
HT適用范圍:
o BGA,CSP,F(xiàn)lip Chip 檢測(cè)
o PCB板焊接情況
o 短路,開(kāi)路,空洞,冷焊的檢測(cè)
o IC 封裝檢測(cè)
o 電容,電阻等元器件的檢測(cè)
o 一些金屬器件的內(nèi)部探傷
o 電熱管、鋰電池、珍珠、精密器件等內(nèi)部探傷
結(jié)構(gòu)特點(diǎn):
1.X/Y/Z,三軸可動(dòng)
2.導(dǎo)軌無(wú)噪音,運(yùn)動(dòng)靈活
3.維護(hù)空間簡(jiǎn)潔、寬敞,保養(yǎng)維護(hù)方便
4.限位開(kāi)關(guān)
5.整體護(hù)措施合國(guó)際輻射標(biāo)準(zhǔn)
6.HT 1000工作平臺(tái)有四種語(yǔ)言界面,使用方便
7.美國(guó)技術(shù),世界水平
系統(tǒng)特點(diǎn):
1.可達(dá)100千伏,5微米聚焦的X光管能產(chǎn)生125倍的幾何放大率,再加上電腦放大可以1000倍的放大率。
2.觀察范圍可從1.5毫米至50毫米。
3.采用激光筆輔助樣品定位。
4.X光管的Z軸可動(dòng)控制(FOV和放大率控制)。
5.X光管探測(cè)器的Z軸可動(dòng)控制(FOV和放大率控制)。
6.載物臺(tái)可作&plun;60°傾斜。
HT 1000軟件功能:
1.同步消除雪花,通過(guò)黑白對(duì)比而自動(dòng)尋找邊緣;
2.BGA焊球測(cè)量技術(shù),只要輕點(diǎn)鼠標(biāo),就能對(duì)任一單個(gè)球體或球柵進(jìn)行測(cè)量(可測(cè)圓、距離、角度、面積);
3.3D圖像模擬功能;
4.自動(dòng)測(cè)量空洞百分比;
5.強(qiáng)大的圖像采集對(duì)比庫(kù)以便進(jìn)行探傷分析;
6.具備鏡像、翻轉(zhuǎn)、對(duì)比度等多種圖像處理功能;
7.為方便各用戶(hù),置中、英等國(guó)際語(yǔ)言支持;
8.SPC或電子數(shù)據(jù)表格輸出能力。