─美國(guó)博曼(Bowman)配有功率X射線光管和高靈敏度探測(cè)器，能夠滿足復(fù)雜樣品和微小測(cè)試面積的檢測(cè)需求。
─電制冷固態(tài)探測(cè)器的信/躁比，從而降低檢測(cè)下限。探測(cè)器分辨率高，能更容易地識(shí)別、量化和區(qū)分相鄰的元素。探測(cè)器靈敏窗口大幅了計(jì)數(shù)率，大多數(shù)的分析能在數(shù)秒或數(shù)分鐘內(nèi)完成。靈活組合運(yùn)用五個(gè)初級(jí)濾波器，使X光管激發(fā)效率，得到優(yōu)的應(yīng)用效果。
─儀器測(cè)量直徑小可150微米，可供選擇的準(zhǔn)直器直徑有0.1、0.2、0.3和1.27毫米。設(shè)計(jì)的鋁鈦板在檢測(cè)輕制樣品時(shí)能大幅降低背景噪音，從而更低的檢測(cè)下限。對(duì)電子產(chǎn)品上的關(guān)鍵組裝區(qū)域進(jìn)行快速篩選性檢測(cè) 。
─儀器在設(shè)定的檢測(cè)程序中可通過(guò)掃瞄功能性快速分析大面積的指定區(qū)域。一旦識(shí)別出問(wèn)題區(qū)域，即可對(duì)特定小點(diǎn)進(jìn)行定量分析。掃瞄分析及元素分布成像功能能夠快速識(shí)別復(fù)雜組件中的含鉛的部件或連接件。該款儀器內(nèi)置數(shù)碼影像裝置，能夠顯示樣品擺放位置及測(cè)試點(diǎn)位置。樣品掃瞄映射成像圖中可對(duì)各種待測(cè)元素設(shè)置不同顏色，然后形成單種或多種元素的組成及含量分布圖。
─根據(jù)不同應(yīng)用，您可以選擇不同的分析方法：經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結(jié)合。如果您知道分析物的元素組成矩陣和含量范圍，經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法是合金分類和元素含量分析的檢測(cè)方法。當(dāng)無(wú)法預(yù)知準(zhǔn)確的元素組成或標(biāo)準(zhǔn)片不情況時(shí)，可選用基本參數(shù)法，通過(guò)儀器擁有的完整光譜數(shù)據(jù)庫(kù)，對(duì)基材和鍍層進(jìn)行可信的厚度測(cè)量和元素定量分析，測(cè)試范圍可以ppm至%。
─自由距離測(cè)量及型樣品艙數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)大，包括平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、柱狀圖和管理圖表。數(shù)據(jù)及時(shí)導(dǎo)出，可以保存為Excel格式，并快速生成分析。用戶能設(shè)置快捷鍵，對(duì)樣品進(jìn)行一鍵校準(zhǔn)。用戶界面提供9種操作言言大型樣品艙能夠靈活地檢測(cè)大件或形狀不規(guī)則的樣品。可在0.5” 至3.5”(12.7mm to 88.9mm)范圍內(nèi)自由調(diào)節(jié)聚焦距離，來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品不同表面的測(cè)量。樣品艙內(nèi)部空間580mmx510mmx230mm。封閉樣品艙設(shè)計(jì)能徹底輻射污染，針對(duì)塑料等輕質(zhì)樣品的檢測(cè)過(guò)程而設(shè)計(jì)。大艙門(mén)使樣品更易放入。
─自定義程序能通過(guò)自定義清晰顯示樣品測(cè)試是否合格或不合格，還可設(shè)置其他針對(duì)特定被測(cè)元素的報(bào)警程序。生成軟體，可證明用戶在檢測(cè)消費(fèi)品是否含有有害元素的過(guò)程中所采取的盡職措施
特點(diǎn)詳細(xì)介紹：
1.可測(cè)量0.01um-300um的鍍層。
2.可做各種鍍層（多層、合金、多層鎳）的精密測(cè)量。
3.除平板形外，還可測(cè)量圓形、棒形（細(xì)線）等各種形狀。
4.可制作非破壞性膜厚儀的標(biāo)準(zhǔn)板。
5.該電鍍膜厚檢測(cè)儀可檢查非破壞式膜厚儀的測(cè)量。
6.可高測(cè)量其他方式不易測(cè)量的三層以上的鍍層。
7.可對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理，以及和逐級(jí)進(jìn)行共同管理。
8.標(biāo)準(zhǔn)板校正值的計(jì)算和設(shè)定可自動(dòng)進(jìn)行，簡(jiǎn)單。
9.有微處理器來(lái)進(jìn)行計(jì)算、儲(chǔ)存、思考。
10.本膜厚儀采用全對(duì)話是操作，因此，只要依據(jù)測(cè)量條件來(lái)進(jìn)行設(shè)定就可測(cè)量情況，簡(jiǎn)單。
11.多可設(shè)定四層鍍層，而每一層均可進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理。例如：測(cè)量條件、平均值、值、小值、上下限值、直方圓均可進(jìn)行計(jì)算并可有列印機(jī)印出，制作測(cè)量很容易。
12.每種鍍層所需的電解液、敏感度及攪動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)的選擇，均可由電鍍膜厚檢測(cè)儀的微處理器自動(dòng)判斷、設(shè)定。
13.測(cè)量數(shù)據(jù)可由通訊網(wǎng)路來(lái)傳輸，所以能和主機(jī)共同進(jìn)行數(shù)據(jù)管理。
14.由于分解速度差距分得很細(xì)，因此可縮短測(cè)量時(shí)間。
15.可分離測(cè)量銅（合金）上的錫（合金）鍍層間的擴(kuò)散（合金）層。
16.由于可儲(chǔ)存64個(gè)不同的測(cè)量情況，所以有相同的測(cè)量情況時(shí)，就進(jìn)行設(shè)定。每個(gè)測(cè)條件可儲(chǔ)存9999個(gè)數(shù)據(jù)。
─電制冷固態(tài)探測(cè)器的信/躁比，從而降低檢測(cè)下限。探測(cè)器分辨率高，能更容易地識(shí)別、量化和區(qū)分相鄰的元素。探測(cè)器靈敏窗口大幅了計(jì)數(shù)率，大多數(shù)的分析能在數(shù)秒或數(shù)分鐘內(nèi)完成。靈活組合運(yùn)用五個(gè)初級(jí)濾波器，使X光管激發(fā)效率，得到優(yōu)的應(yīng)用效果。
─儀器測(cè)量直徑小可150微米，可供選擇的準(zhǔn)直器直徑有0.1、0.2、0.3和1.27毫米。設(shè)計(jì)的鋁鈦板在檢測(cè)輕制樣品時(shí)能大幅降低背景噪音，從而更低的檢測(cè)下限。對(duì)電子產(chǎn)品上的關(guān)鍵組裝區(qū)域進(jìn)行快速篩選性檢測(cè) 。
─儀器在設(shè)定的檢測(cè)程序中可通過(guò)掃瞄功能性快速分析大面積的指定區(qū)域。一旦識(shí)別出問(wèn)題區(qū)域，即可對(duì)特定小點(diǎn)進(jìn)行定量分析。掃瞄分析及元素分布成像功能能夠快速識(shí)別復(fù)雜組件中的含鉛的部件或連接件。該款儀器內(nèi)置數(shù)碼影像裝置，能夠顯示樣品擺放位置及測(cè)試點(diǎn)位置。樣品掃瞄映射成像圖中可對(duì)各種待測(cè)元素設(shè)置不同顏色，然后形成單種或多種元素的組成及含量分布圖。
─根據(jù)不同應(yīng)用，您可以選擇不同的分析方法：經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結(jié)合。如果您知道分析物的元素組成矩陣和含量范圍，經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法是合金分類和元素含量分析的檢測(cè)方法。當(dāng)無(wú)法預(yù)知準(zhǔn)確的元素組成或標(biāo)準(zhǔn)片不情況時(shí)，可選用基本參數(shù)法，通過(guò)儀器擁有的完整光譜數(shù)據(jù)庫(kù)，對(duì)基材和鍍層進(jìn)行可信的厚度測(cè)量和元素定量分析，測(cè)試范圍可以ppm至%。
─自由距離測(cè)量及型樣品艙數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)大，包括平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、柱狀圖和管理圖表。數(shù)據(jù)及時(shí)導(dǎo)出，可以保存為Excel格式，并快速生成分析。用戶能設(shè)置快捷鍵，對(duì)樣品進(jìn)行一鍵校準(zhǔn)。用戶界面提供9種操作言言大型樣品艙能夠靈活地檢測(cè)大件或形狀不規(guī)則的樣品。可在0.5” 至3.5”(12.7mm to 88.9mm)范圍內(nèi)自由調(diào)節(jié)聚焦距離，來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品不同表面的測(cè)量。樣品艙內(nèi)部空間580mmx510mmx230mm。封閉樣品艙設(shè)計(jì)能徹底輻射污染，針對(duì)塑料等輕質(zhì)樣品的檢測(cè)過(guò)程而設(shè)計(jì)。大艙門(mén)使樣品更易放入。
─自定義程序能通過(guò)自定義清晰顯示樣品測(cè)試是否合格或不合格，還可設(shè)置其他針對(duì)特定被測(cè)元素的報(bào)警程序。生成軟體，可證明用戶在檢測(cè)消費(fèi)品是否含有有害元素的過(guò)程中所采取的盡職措施
特點(diǎn)詳細(xì)介紹：
1.可測(cè)量0.01um-300um的鍍層。
2.可做各種鍍層（多層、合金、多層鎳）的精密測(cè)量。
3.除平板形外，還可測(cè)量圓形、棒形（細(xì)線）等各種形狀。
4.可制作非破壞性膜厚儀的標(biāo)準(zhǔn)板。
5.該電鍍膜厚檢測(cè)儀可檢查非破壞式膜厚儀的測(cè)量。
6.可高測(cè)量其他方式不易測(cè)量的三層以上的鍍層。
7.可對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理，以及和逐級(jí)進(jìn)行共同管理。
8.標(biāo)準(zhǔn)板校正值的計(jì)算和設(shè)定可自動(dòng)進(jìn)行，簡(jiǎn)單。
9.有微處理器來(lái)進(jìn)行計(jì)算、儲(chǔ)存、思考。
10.本膜厚儀采用全對(duì)話是操作，因此，只要依據(jù)測(cè)量條件來(lái)進(jìn)行設(shè)定就可測(cè)量情況，簡(jiǎn)單。
11.多可設(shè)定四層鍍層，而每一層均可進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理。例如：測(cè)量條件、平均值、值、小值、上下限值、直方圓均可進(jìn)行計(jì)算并可有列印機(jī)印出，制作測(cè)量很容易。
12.每種鍍層所需的電解液、敏感度及攪動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)的選擇，均可由電鍍膜厚檢測(cè)儀的微處理器自動(dòng)判斷、設(shè)定。
13.測(cè)量數(shù)據(jù)可由通訊網(wǎng)路來(lái)傳輸，所以能和主機(jī)共同進(jìn)行數(shù)據(jù)管理。
14.由于分解速度差距分得很細(xì)，因此可縮短測(cè)量時(shí)間。
15.可分離測(cè)量銅（合金）上的錫（合金）鍍層間的擴(kuò)散（合金）層。
16.由于可儲(chǔ)存64個(gè)不同的測(cè)量情況，所以有相同的測(cè)量情況時(shí)，就進(jìn)行設(shè)定。每個(gè)測(cè)條件可儲(chǔ)存9999個(gè)數(shù)據(jù)。
