─美國博曼(Bowman)配有功率X射線光管和高靈敏度探測器，能夠滿足復(fù)雜樣品和微小測試面積的檢測需求。
─電制冷固態(tài)探測器的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率高，能更容易地識別、量化和區(qū)分相鄰的元素。探測器靈敏窗口大幅了計(jì)數(shù)率，大多數(shù)的分析能在數(shù)秒或數(shù)分鐘內(nèi)完成。靈活組合運(yùn)用五個(gè)初級濾波器，使X光管激發(fā)效率，得到優(yōu)的應(yīng)用效果。
─儀器測量直徑小可150微米，可供選擇的準(zhǔn)直器直徑有0.1、0.2、0.3和1.27毫米。設(shè)計(jì)的鋁鈦板在檢測輕制樣品時(shí)能大幅降低背景噪音，從而更低的檢測下限。對電子產(chǎn)品上的關(guān)鍵組裝區(qū)域進(jìn)行快速篩選性檢測 。
─儀器在設(shè)定的檢測程序中可通過掃瞄功能性快速分析大面積的指定區(qū)域。一旦識別出問題區(qū)域，即可對特定小點(diǎn)進(jìn)行定量分析。掃瞄分析及元素分布成像功能能夠快速識別復(fù)雜組件中的含鉛的部件或連接件。該款儀器內(nèi)置數(shù)碼影像裝置，能夠顯示樣品擺放位置及測試點(diǎn)位置。樣品掃瞄映射成像圖中可對各種待測元素設(shè)置不同顏色，然后形成單種或多種元素的組成及含量分布圖。
─根據(jù)不同應(yīng)用，您可以選擇不同的分析方法：經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結(jié)合。如果您知道分析物的元素組成矩陣和含量范圍，經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法是合金分類和元素含量分析的檢測方法。當(dāng)無法預(yù)知準(zhǔn)確的元素組成或標(biāo)準(zhǔn)片不情況時(shí)，可選用基本參數(shù)法，通過儀器擁有的完整光譜數(shù)據(jù)庫，對基材和鍍層進(jìn)行可信的厚度測量和元素定量分析，測試范圍可以ppm至%。
─自由距離測量及型樣品艙數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)大，包括平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、柱狀圖和管理圖表。數(shù)據(jù)及時(shí)導(dǎo)出，可以保存為Excel格式，并快速生成分析。用戶能設(shè)置快捷鍵，對樣品進(jìn)行一鍵校準(zhǔn)。用戶界面提供9種操作言言大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規(guī)則的樣品。可在0.5” 至3.5”(12.7mm to 88.9mm)范圍內(nèi)自由調(diào)節(jié)聚焦距離，來實(shí)現(xiàn)對樣品不同表面的測量。樣品艙內(nèi)部空間580mmx510mmx230mm。封閉樣品艙設(shè)計(jì)能徹底輻射污染，針對塑料等輕質(zhì)樣品的檢測過程而設(shè)計(jì)。大艙門使樣品更易放入。
─自定義程序能通過自定義清晰顯示樣品測試是否合格或不合格，還可設(shè)置其他針對特定被測元素的報(bào)警程序。生成軟體，可證明用戶在檢測消費(fèi)品是否含有有害元素的過程中所采取的盡職措施
1,可以測量多層膜中每一層的厚度
　
2,三維的厚度型貌
　
　3,遠(yuǎn)程控制和在線測量
　
　4,可做150mm or 300mm 的大范圍的掃描測試
　5,豐富的材料庫:操作軟件的材料庫帶有大量材料的n和k數(shù)據(jù),基本上的常用材料都包括在這個(gè)材料庫中.用戶也可以在材料庫中輸入沒有的材料.
　
　6,軟件操作簡單,測速快:膜厚測量儀操作簡單,測量速度快:100ms-1s.
　
　7,軟件帶有構(gòu)建材料結(jié)構(gòu)的拓展功能,可對單/多層薄膜數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合分析,可對薄膜材料進(jìn)行預(yù)先模擬設(shè)計(jì).
　
　8,軟件帶有可升級的掃描功能,進(jìn)行薄膜二維的測試,并將結(jié)果以2D或3D的形式顯示.軟件其他的升級功能還包括在線分析軟件,遠(yuǎn)程控制模塊等>膜厚儀的技術(shù)參數(shù)
　
　厚度測量:10納米-250微米; 可以選擇250nm-1100nm間任一波長,也可在該范圍內(nèi)選擇多波長分析;