美國(guó)半導(dǎo)體PCB板膜厚儀應(yīng)用領(lǐng)域:黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè);金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;貴金屬加工和飾加工行業(yè);銀行、飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。
快速、的分析:
大面積正比計(jì)數(shù)探測(cè)器和博曼儀器50瓦微聚焦X射線光管(X射線光束強(qiáng)度大、斑點(diǎn)小,樣品激發(fā)佳)相結(jié)合,提供靈敏度
簡(jiǎn)單的元素區(qū)分:
通過(guò)次級(jí)射線濾波器分離元素的重疊光譜
性能優(yōu)化,可分析的元素范圍大:
預(yù)置800多種容易選擇的應(yīng)用參數(shù)/方法
卓越的長(zhǎng)期穩(wěn)定性:
自動(dòng)熱補(bǔ)償功能測(cè)量?jī)x器溫度變化并做修正,穩(wěn)定的測(cè)試結(jié)果
例行進(jìn)行簡(jiǎn)單快 速的波譜校準(zhǔn),可自動(dòng)檢查儀器性能(例如靈敏性)并進(jìn)行要的修正
堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)
可在實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)線上操作
堅(jiān)固的工業(yè)設(shè)計(jì)
美國(guó)半導(dǎo)體PCB板膜厚儀結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、用于質(zhì)量控制的的臺(tái)式X射線熒光分析設(shè)備,提供簡(jiǎn)單、快速、的鍍層厚度測(cè)量和材料分析。
產(chǎn)品特點(diǎn):
即放即測(cè)!
通過(guò)自動(dòng)定位功能,放置樣品后需幾秒,便能自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)觀察樣品焦點(diǎn)。
10秒鐘完成50nm的薄金鍍層測(cè)量!
以的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)微小區(qū)域下的高靈敏度,即使在微小準(zhǔn)直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度地膜厚測(cè)量的。
無(wú)標(biāo)樣測(cè)量!
將薄膜FP軟件進(jìn)一步擴(kuò)充,即使沒(méi)有厚度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)也能進(jìn)行高的測(cè)量。也可簡(jiǎn)單地測(cè)量多鍍層膜和合金膜樣品。
通過(guò)廣域觀察系統(tǒng)更方便選擇測(cè)量位置!
通過(guò)廣域觀察系統(tǒng),能夠從畫面上的樣品整體圖(250×200mm)中方便地指定測(cè)量位置
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