成本低、快速、非破壞的分析
可完成至多4層鍍層(另加底材)和15個元素的鍍層厚度測試,自動修正X射線重疊譜線
卓越的多元素辨識,廣泛覆蓋元素表上從鋁(原子序數(shù)13號)到鈾(92號)各元素 測厚行業(yè)20年知識和經(jīng)驗的積淀.
博曼半導(dǎo)體線路板膜厚儀可實現(xiàn)如下測試要求:
合ISO3497標(biāo)準(zhǔn)測試方法:金屬鍍層——X射線光譜法測量鍍層厚度
合ASTM B568標(biāo)準(zhǔn)測試方法:X射線光譜儀測量鍍層厚度,包括金屬和部分非金屬鍍層
至多同時分析25種元素
經(jīng)實踐驗證、堅固、耐用的設(shè)計,可在大多數(shù)嚴(yán)苛的工業(yè)條件下使用。
空間占用小 –節(jié)約寶貴的工作臺空間,也可近產(chǎn)線放置。
計算機提供U和以太網(wǎng)接口用于連接打印機、光驅(qū)和網(wǎng)絡(luò)。