◆ 產品通用性高，換顆粒限位框，即可測試尺寸不同的顆粒（寬度≤13mm 長度≤14mm）；
◆ 產品設計，相比以前更薄，預留插槽卡位，不需轉接槽可直接插到測試板上進行測試，把頻率衰減降到，
減少誤測；
◆ 有球無球均可測試，顆粒壓板通過使用高自適應彈簧每個IC平衡下壓；
◆ 采用手動翻蓋滾軸式結構，操作省力方便，相比同類產品減少磨損，更高的使用壽命；
◆ 采用臺灣廠家生產的內存顆粒測試PCB，金手指、IC焊盤鍍金層是普通PCB的10倍，測試治具有更好
的導通和性,相比同類產品具有更好的頻性能及使用壽命；
◆ 采用帶定位孔內存顆粒測試PCB，探針板與PCB孔定位，探針與PCB定位，如有損壞用戶可自行更換
維修 ,
簡單方便，減少返廠維修，為客戶爭取寶貴時間；
◆ 采用短雙頭探針設計，相比同類測試產品使IC與PCB之間數(shù)輸距離更短，從而使測試更穩(wěn)定，頻率更高，
DDR3系列頻率可達2000MHZ；
◆ 探針板采用定位銷加螺絲結構，在使用過程中如有探針損壞，客戶可自行更換維修，方便維護，為生產爭取寶貴
時間；
◆ 高合金IC定位框，IC定位，取放IC方便，從而測試效率；
◆ 測試壽命長，測試10萬次以上；（視使用環(huán)境及相關操作而定）；五金件保修;
◆ 內存顆粒測試治具測試規(guī)格：DDR2X8 DDR3X8性可測試8/16顆內存顆粒；
◆ 可以定制單顆內存IC與服務器主控IC的測試治具;
◆ 可以提供相關的技術支持。
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