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磁粉標(biāo)準(zhǔn)B型試塊
本品用于磁粉探傷時(shí)對(duì)幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工件檢驗(yàn)時(shí)，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢驗(yàn)探傷設(shè)備、磁粉或磁懸液的性能，在磁粉探傷操作中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作需要的電流峰值和方向，并對(duì)顯示缺陷的磁場(chǎng)強(qiáng)度有所估量，是磁粉探傷必備的調(diào)試工具。
磁粉標(biāo)準(zhǔn)B型試塊 符合JB/T6066-2004標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)磁探B型試塊（亦稱(chēng)12孔直流試環(huán)），與美國(guó)的BETZ同效；適合于檢驗(yàn)磁粉探傷設(shè)備磁粉和磁懸液的綜合性能（系統(tǒng)靈敏度），也用于考察試驗(yàn)條件和操作方法是否適當(dāng)。當(dāng)不能確定磁化規(guī)范、磁場(chǎng)方向和有效磁化范圍。B型試塊用于驗(yàn)證磁化電流為直流電或三相全波整流電的磁粉綜合性能。
規(guī)格：中心孔徑φ31.8mm, 人工缺陷孔徑φ1.78mm, 表面距離1.78-21.34mm
