- 產(chǎn)品品牌:
- 大平
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 D1型
本品用于磁粉探傷時對幾何形狀復(fù)雜,不同材質(zhì)的工件檢驗時,可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢驗探傷設(shè)備、磁粉或磁懸液的性能,在磁粉探傷操作中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作需要的電流峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場強度有所估量,是磁粉探傷必備的調(diào)試工具。
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 D1型 符合JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)
D1型試片用于檢驗磁粉探傷設(shè)備、磁粉和磁懸液的綜合性能(系統(tǒng)靈敏度),及磁化方向、有效磁化范圍和大致的有效磁場強度以及考察所采用的探傷工藝規(guī)程。
規(guī)格:15/50、7/50、30/50三種規(guī)格,適用于有曲率的探傷面,6片/套
尺寸:10×10mm,厚度50υm