- 產(chǎn)品品牌：
- 美國NANOVEA
- 產(chǎn)品型號：
- S1000
美國NANOVEA納米劃痕測試儀 美國NANOVEA公司是一家公認(rèn)的劃痕測試儀的革新者，生產(chǎn)的劃痕測試儀是目前國際上用在科學(xué)研究和工業(yè)領(lǐng)域先進的設(shè)備之一，該公司在光學(xué)設(shè)計、精密機械和科學(xué)軟件算法方面，擁有長期不斷發(fā)展的技術(shù)，由于這些專門技術(shù)的應(yīng)用，NANOVEA為生產(chǎn)和質(zhì)量控制的研究和發(fā)展提供精密準(zhǔn)確的全方位解決方案。 納米劃痕儀主要用于界定涂層薄膜與基底的結(jié)合強度、涂層失效形式，薄膜的抗劃痕強度與基底的變形尺度等，主要應(yīng)用在：
- 半導(dǎo)體技術(shù)(鈍化層、鍍金屬、Bond Pads)；
- 存儲材料(磁盤的保護層、磁盤基底上的磁性涂層、CD的保護層)；
- 光學(xué)組件(接觸鏡頭、光纖、光學(xué)刮擦保護層)；
- 金屬蒸鍍層；
- 防磨損涂層(TiN, TiC, DLC, 切割工具)；
- 藥理學(xué)(藥片、植入材料、生物組織)；
- 工程學(xué)(油漆涂料、橡膠、觸摸屏、MEMS)；
- 多種劃痕針頭
- 微米、顯微模塊
- 硬度測試模塊
- 摩擦磨損測試模塊
- 聲發(fā)射模塊
- AFM模塊
- 三維顯微模塊
