產(chǎn)品品牌：

美國NANOVEA

產(chǎn)品型號(hào)：

MST

美國NANOVEA公司是一家公認(rèn)的劃痕測試儀的領(lǐng)航者，生產(chǎn)的劃痕測試儀是目前國際上用在科學(xué)研究和工業(yè)領(lǐng)域先進(jìn)的設(shè)備之一，該公司在光學(xué)設(shè)計(jì)、精密機(jī)械和科學(xué)軟件算法方面，擁有長期不斷發(fā)展的技術(shù)，由于這些專門技術(shù)的應(yīng)用，NANOVEA為生產(chǎn)和質(zhì)量控制的研究和發(fā)展提供精密準(zhǔn)確的全方位解決方案。 微米/顯微劃痕儀主要用于界定涂層薄膜與基底的結(jié)合強(qiáng)度與薄膜的抗劃痕強(qiáng)度，主要應(yīng)用在： 1.       半導(dǎo)體技術(shù)(鈍化層、鍍金屬、Bond Pads)； 2.       存儲(chǔ)材料(磁盤的保護(hù)層、磁盤基底上的磁性涂層、CD的保護(hù)層)； 3.       光學(xué)組件(接觸鏡頭、光纖、光學(xué)刮擦保護(hù)層)； 4.       金屬蒸鍍層； 5.       防磨損涂層(TiN, TiC, DLC, 切割工具)； 6.       藥理學(xué)(藥片、植入材料、生物組織)； 7.       工程學(xué)(油漆涂料、橡膠、觸摸屏、MEMS)； 主要特點(diǎn)有： 1. 完全符合ASTM D7187，D7027，D1624，C171，ISO 20502，ISO 1518 2. 光學(xué)顯微鏡自動(dòng)觀察 3.       壓電陶瓷反饋控制 4.       加載載荷與劃痕深度的實(shí)時(shí)測量 5.       實(shí)時(shí)三維表面輪廓測量 可選件有： 1.       多種劃痕針頭 2.       納米測試模塊 3.       摩擦磨損測試模塊 4.       硬度測試模塊 5.       聲發(fā)射模塊 6.       AFM模塊 7.       三維顯微模塊