TDM-200膜層監(jiān)控儀適用于高頻濺射、直流濺射、電阻蒸發(fā)、離子束、電子束等鍍膜應(yīng)用場合，在線測量膜層的厚度，可用于批量生產(chǎn)，也可用于薄膜材料研究。本儀器具有高速高測量系統(tǒng)，可提高鍍膜的質(zhì)量和可重復(fù)性，具有穩(wěn)定、易于操作、配置靈活的特點(diǎn)。還提供了監(jiān)測和控制功能，您可通過液晶顯示屏連續(xù)獲取沉積速率、厚度和晶片頻率；并可通過計算機(jī)記錄數(shù)據(jù)并實(shí)時描繪厚度曲線和速率曲線。     ▲ TDM-200型膜層控制儀采用全中文人機(jī)操作界面,方便您的編程和操作。     ▲  頻率計算和顯示分辨率達(dá)到0.1Hz，計算速率達(dá)到每秒四次，為您制備薄膜提供了有力支持。     ▲提供了RS-232接口，您可對鍍膜過程進(jìn)行遙控。并可通過計算機(jī)實(shí)時描繪厚度曲線和速率曲線。     ▲對于多層膜中的關(guān)鍵膜層，您可使用特定的擋板探頭監(jiān)測，大大提升產(chǎn)品成膜質(zhì)量和。     ▲可配合多源鍍膜系統(tǒng)，并為您提供了256種材料參數(shù)供使用。     ▲ 連續(xù)鍍膜還設(shè)計了自動監(jiān)控方式，簡化您的操作。     ▲ 19英寸標(biāo)準(zhǔn)機(jī)箱，備有適配電纜，易于安裝至現(xiàn)有的裝置中。   規(guī)格

測量 頻率計算    ±0.1Hz(在6.0MHz頻率時) 頻率顯示    0.1Hz 測量速率          4Hz   　 顯示 厚度顯示        000000?～999999? 速率顯示        000.0～999.9?/s 時間顯示        00:00:00～23:59:59（時:分:秒）層數(shù)              01～99層圖形顯示        240x64LCD，低功耗LED背光　 存儲能力 層                99層材料庫          256種材料參數(shù)　 膜層參數(shù) 層               01～99 厚度            000000～999999 ? 材料            分子式（長10個字符）密度            00.00～99.99g/cm3 工具因子      00.00～99.99 Z因子          00.00～99.99 探頭            A、B、C、D 探頭擋板     “無”或 “有”

系統(tǒng)參數(shù) 擋板延遲      00:00～99:99(分:秒) 鍍膜方式     “單層”、“多層” 控制方式     “手動”、“自動” 啟動延遲      00:00～99:99(分:秒) 　 輸出控制能力 源擋板         4個探頭擋板      4個　 監(jiān)控能力 源               4個探頭數(shù)量      4個 通信 通訊接口            標(biāo)配RS-232串行口 Windows軟件    隨機(jī)附帶　 其它 供電要求       220V（±5%），50Hz，                    功率<30W 工作溫度       0℃～50℃ 儀器尺寸       112 x 480x360（高x寬x                     深），可用于19’標(biāo)準(zhǔn)工業(yè)                    機(jī)架儀器重量       5.0Kg