品牌 | KZT | 型號 | DDR2 |
測量范圍 | 888 | 測量 | 888 |
電源電壓 | 888(V) | 尺寸 | 888(mm) |
重量 | 888(kg) | 用途 | 內(nèi)存條DDR2顆粒測試 |
產(chǎn)品特點及性能參數(shù):
◆產(chǎn)品通用程度高,只要換IC限位框,即可測試所有內(nèi)存IC(寬度≤12MM);
◆有球無球均可測試(只需更換上蓋的IC壓板);
◆采用手動翻蓋式結(jié)構(gòu),操作方便;
◆上蓋的IC壓板采用擺動式結(jié)構(gòu),下壓平穩(wěn),保證IC的壓力均勻,不移位;
◆探針的特殊頭形突起能刺破焊接球的氧化層,接觸可靠,而不會損壞錫球;
◆高的定位槽,保證IC定位,測試效率高;
◆測試準(zhǔn)確性高,大大減少誤判率;
◆采用進口雙頭針,探針可更換,維修方便,成本低;
◆絕緣材料:Torlon、PEI、PEEK,限位框鋁合金材料制作;
◆測試頻率可達1066M Hz;
◆測試壽命長,有效測試10萬次以上;
◆內(nèi)存條測試治具測試規(guī)格:DDR2X8
性可測試8顆內(nèi)存顆粒;
◆可以定制單顆內(nèi)存IC與服務(wù)器主控IC的測試治具
◆可以提供相關(guān)的技術(shù)支持。
產(chǎn)品服務(wù):
※半年保修(人為損壞除外)。
※保修期外,維修,如果需換件,只收材料成本費。
※可以提供相關(guān)的技術(shù)支持。