型號/規(guī)格：XJ12-LC201-B18#$%^19#$貿易商%^141#$全新%^638#$%^20#$中國

產品描述：皮帶稱重控制器 型號:XJ12-LC201-B 電源范圍 AC85～240V，50/60Hz 功率 <15W 電源保險絲容量 250V,0.5a 溫度范圍 -10～40℃ 相對濕度 <90%RH

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型號/規(guī)格：ZXHD/Aiew5002#$%^3#$貿易商%^125#$全新%^621#$%^4#$中國

產品描述：電能質里監(jiān)測裝置 型號:ZXHD/Aiew500 電壓有|效|值±0.1% 電流有|效|值±0.1% 有功、無功、視在功率±0.2% 功率因|數±0.5% 電|能0.5級 電壓偏差0.1...

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型號/規(guī)格：LT-13072#$%^3073#$%^3074#$5~10000μs%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

產品描述：高頻光電導少數載流子壽命測試儀（單晶少子壽命測試儀）原型號LT-1C 型號:LT-1 庫號：D220754 1、概述LT-1高頻光電導少數載流子壽命測試儀是參照半導體設備...

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型號/規(guī)格：LT-13072#$%^3073#$%^3074#$5~10000μs%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

產品描述：高頻光電導少數載流子壽命測試儀（單晶少子壽命測試儀）原型號LT-1C 型號:LT-1 庫號：D220754 1、概述LT-1高頻光電導少數載流子壽命測試儀是參照半導體設備...

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型號/規(guī)格：LT-13072#$%^3073#$%^3074#$5~10000μs%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

產品描述：高頻光電導少數載流子壽命測試儀（單晶少子壽命測試儀）原型號LT-1C 型號:LT-1 庫號：D220754 1、概述LT-1高頻光電導少數載流子壽命測試儀是參照半導體設備...

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型號/規(guī)格：WBSM-23072#$%^3073#$%^3074#$圍0----20）電流%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

產品描述：一、主要特點2適用于單相用電設備的電壓值、電流值、功率值等參數的測量。3采用18位數字顯示，可同時顯示電壓、電流、時間、計數次數等參數。4本儀器具有電流...

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型號/規(guī)格：WBSM-23072#$%^3073#$%^3074#$圍0----20）電流%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

產品描述：一、主要特點2適用于單相用電設備的電壓值、電流值、功率值等參數的測量。3采用18位數字顯示，可同時顯示電壓、電流、時間、計數次數等參數。4本儀器具有電流...

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型號/規(guī)格：KT12-LT-100C3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

產品描述：高頻光電導少數載流子壽命測試儀庫號D301889高頻光電導少數載流子壽命測試儀庫號D301889高頻光電導少數載流子壽命測試儀為了能直接讀取壽命值編寫了軟件存入...

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型號/規(guī)格：LT-13072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

產品描述：高頻光電導少數載流子壽命測試儀（單晶少子壽命測試儀）原型號LT-1C 型號:CN61M/LT-1庫號：M220754 1、概述LT-1高頻光電導少數載流子壽命測試儀是參照半導體...

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型號/規(guī)格：1283232#$%^3233#$%^3234#$%^3235#$%^3236#$%^3237#$%^3238#$%^3239#$%^3240#$

產品描述：上海宇涵機械直銷鋁線卷繞壽命測試儀

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型號/規(guī)格：1283232#$%^3233#$%^3234#$%^3235#$%^3236#$%^3237#$%^3238#$%^3239#$%^3240#$

產品描述：上海宇涵機械直銷鋁線卷繞壽命測試儀

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型號/規(guī)格：HD-D128-13072#$儀器設備%^3073#$箱包%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$0～999.9小時%^3079#$%^3080#$

產品描述：箱包跑樓梯壽命測試儀此臺設備模擬日常生活中旅行箱包的輪子在上下樓梯過程中的狀態(tài)，以檢驗箱包輪子的使用壽命。

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型號/規(guī)格：HD-D128-13072#$儀器設備%^3073#$箱包%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$0～999.9小時%^3079#$%^3080#$

產品描述：箱包跑樓梯壽命測試儀此臺設備模擬日常生活中旅行箱包的輪子在上下樓梯過程中的狀態(tài)，以檢驗箱包輪子的使用壽命。

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型號/規(guī)格：WH-YJ01-113102#$%^103#$制造商%^139#$全新%^104#$廣東省中山市南頭鎮(zhèn)

產品描述：WH-YJ01-113微動開關壽命實驗臺適用于燃氣灶旋塞閥上微動開關的壽命試驗，具有檢測微動開關接觸電阻和通斷性能，模擬微動開關的使用壽命，每個工位循環(huán)動作的...

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型號/規(guī)格：WH-YJ01-113102#$%^103#$制造商%^139#$全新%^104#$廣東省中山市南頭鎮(zhèn)

產品描述：WH-YJ01-113微動開關壽命實驗臺適用于燃氣灶旋塞閥上微動開關的壽命試驗，具有檢測微動開關接觸電阻和通斷性能，模擬微動開關的使用壽命，每個工位循環(huán)動作的...

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型號/規(guī)格：JZ-LT2型18#$九州空間%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京

產品描述：JZ-LT2型單晶少子壽命測試儀是參考美國 A.S.T.M 標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數載流子壽命。半導體材料的少數載流子壽命測量，是半導體的常規(guī)測試項...

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型號/規(guī)格：JZ-LT2型18#$九州空間%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京

產品描述：JZ-LT2型單晶少子壽命測試儀是參考美國 A.S.T.M 標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數載流子壽命。半導體材料的少數載流子壽命測量，是半導體的常規(guī)測試項...

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型號/規(guī)格：JZ-100A14#$九州空間%^15#$制造商%^131#$全新%^16#$北京

產品描述：本設備采用微波反射無接觸光電導衰退測量方法，適用于厚度為1mm以下的硅片、電池片少數載流子壽命的測量，提供無接觸、無損傷、數字顯示的快速測量。壽命測量...

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型號/規(guī)格：JZ-100A14#$九州空間%^15#$制造商%^131#$全新%^16#$北京

產品描述：本設備采用微波反射無接觸光電導衰退測量方法，適用于厚度為1mm以下的硅片、電池片少數載流子壽命的測量，提供無接觸、無損傷、數字顯示的快速測量。壽命測量...

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型號/規(guī)格：ZT-58003405#$0%^3406#$0%^3407#$0%^3408#$0%^3409#$00%^3410#$0%^3411#$0%^3412#$0%^3413#$0

產品描述：本機適用于多種連接器插拔試驗之用，可顯示插拔力連續(xù)變化值和峰值，并具有次數設定，速度位元程可調，并且顯示速度值，可謂目前市場上性價比之插拔力試驗機。

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