詢價
- 品牌/商標：九州空間
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：北京
- 微波光電導載流子復合壽命測試儀：微波光電導載流子復合壽命測試儀是參照半導體設備和材料國際組織SEMI標準MF1535-0707及國家標準GB/T 26068-2010設計制造
- 微波光電導載流子復合壽命測定儀：并且我單位是微波反射法國家標準起草單位之一
- 微波光電導載流子復合壽命速測儀： 壽命測量范圍：0.25μs-10ms；樣品電阻率下限>0.5Ω·cm。
JZ-100A微波光電導載流子復合壽命測試儀
產(chǎn)品簡介
微波光電導載流子復合壽命測試儀是參照半導體設備和材料國際組織SEMI標準MF1535-0707及國家標準GB/T 26068-2010設計制造。并且我單位是微波反射法國家標準起草單位之一。本設備采用微波反射無接觸光電導衰退測量方法，適用于厚度為1mm以下的硅片、電池片少數(shù)載流子壽命的測量，提供無接觸、無損傷、數(shù)字顯示的快速測量。壽命測量可靈敏地反映半導體重金屬污染及缺陷存在的情況，是半導體質(zhì)量的重要檢測項目。
壽命測量范圍：0.25μs-10ms；樣品電阻率下限>0.5Ω·cm。
讀數(shù)方式：數(shù)字直讀。
產(chǎn)品簡介
微波光電導載流子復合壽命測試儀是參照半導體設備和材料國際組織SEMI標準MF1535-0707及國家標準GB/T 26068-2010設計制造。并且我單位是微波反射法國家標準起草單位之一。本設備采用微波反射無接觸光電導衰退測量方法，適用于厚度為1mm以下的硅片、電池片少數(shù)載流子壽命的測量，提供無接觸、無損傷、數(shù)字顯示的快速測量。壽命測量可靈敏地反映半導體重金屬污染及缺陷存在的情況，是半導體質(zhì)量的重要檢測項目。
壽命測量范圍：0.25μs-10ms；樣品電阻率下限>0.5Ω·cm。
讀數(shù)方式：數(shù)字直讀。
