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 Park原子力顯微鏡AFM探針OMCL-AC160TS 10M

        AFM探針基本都是由MEMS技術(shù)加工 Si 或者 Si3N4來(lái)制備. 探針針尖半徑一般為10到幾十 nm。微懸臂通常由一個(gè)一般100~500μm長(zhǎng)和大約500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微懸臂大約100μm長(zhǎng)、10μm寬、數(shù)微米厚。

利用探針與樣品之間各種不同的相互作用的力而開發(fā)了各種不同應(yīng)用域的顯微鏡，如AFM(范德華力)，靜電力顯微鏡EFM(靜電力)磁力顯微鏡MFM(靜磁力)側(cè)向力顯微鏡LFM(探針側(cè)向偏轉(zhuǎn)力)等， 因此有對(duì)應(yīng)不同種類顯微鏡的相應(yīng)探針。

原子力顯微鏡的探針主要有以下幾種:

(1)、 非接觸/輕敲模式針尖以及接觸模式探針:常用的產(chǎn)品，分辨率高，使用壽命一般。使用過程中探針不斷磨損，分辨率很容易下降。主要應(yīng)用與表面形貌觀察。

(2)、 導(dǎo)電探針:通過對(duì)普通探針鍍20-40納米厚的Pt(以及別的提高鍍層結(jié)合力的金屬，如Au、Cr、Ti和Pt與Ir的合金等)得到。導(dǎo)電探針應(yīng)用于EFM，KFM，SCM等。導(dǎo)電探針分辨率比tapping和contact模式的探針差，使用時(shí)導(dǎo)電鍍層容易脫落，導(dǎo)電性難以長(zhǎng)期保持。導(dǎo)電針尖的新產(chǎn)品有碳納米管針尖，金剛石鍍層針尖，全金剛石針尖，全金屬絲針尖，這些新技術(shù)克服了普通導(dǎo)電針尖的短壽命和分辨率不高的缺點(diǎn)。

(3)、磁性探針:應(yīng)用于MFM，通過在普通tapping和contact模式的探針上鍍Co、Fe等鐵磁性層制備，分辨率比普通探針差，使用時(shí)導(dǎo)電鍍層容易脫落。

(4)、大長(zhǎng)徑比探針:大長(zhǎng)徑比針尖是為測(cè)量深的溝槽以及近似鉛垂的側(cè)面而設(shè)計(jì)生產(chǎn)的。特點(diǎn):不太常用的產(chǎn)品，分辨率很高，使用壽命一般。技術(shù)參數(shù):針尖高度> 9μm;長(zhǎng)徑比5:1;針尖半徑< 10 nm。

(5)、類金剛石碳AFM探針/全金剛石探針:一種是在硅探針的針尖部分上加一層類金剛石碳膜，另外一種是全金剛石材料制備(價(jià)格很高)。這兩種金剛石碳探針具有很大的耐久性，減少了針尖的磨損從而增加了使用壽命。

還有生物探針(分子功能化)，力調(diào)制探針，壓痕儀探針

Park原子力顯微鏡AFM探針OMCL-AC160TS 10M

Park原子力顯微鏡AFM探針OMCL-AC160TS 10M

Park四面體探針測(cè)微懸臂的特點(diǎn)，在于探針位于測(cè)微懸臂的Z端，由此易于清楚確認(rèn)探針與樣品的位置關(guān)系，從而迅速而準(zhǔn)確地對(duì)準(zhǔn)測(cè)定位置。為滿足客戶多種特殊需求，此產(chǎn)品備有標(biāo)準(zhǔn)型、鉑膜型和四面刃型三種類型的硅探針可供選擇。

    具有高品質(zhì)的解析度，共振頻率在300 kHz與26 N/m的彈性系數(shù), 大大的降低了破壞樣品的機(jī)率；

    外觀設(shè)計(jì)：新產(chǎn)品的側(cè)壁垂直面更便于探針的夾??；

    TipView設(shè)計(jì)：鋒利的探頭放置在后的懸臂。TipView設(shè)計(jì)便于探測(cè)定位；

    測(cè)量環(huán)境：適用于空氣中測(cè)量；

    測(cè)量模式：AC（動(dòng)態(tài)）模式；

    OMCL-AC160TS 10M的針尖適用于一般標(biāo)準(zhǔn)表面形貌量測(cè)，適用于以下sample:

    1、pss藍(lán)寶石基板的表面形貌量測(cè)；

    2、太陽(yáng)能板的表面形貌量測(cè)；

    3、玻璃面板等各式有機(jī)材料、無(wú)機(jī)材料的表面形貌的量測(cè);

    OMCL-AC160TS 10M均可直接代替以下品牌型號(hào)針尖：

    1、Nanoworld 的NCHR/Arrow NCR;

    2、Appnano的ACTA;

    3、Bruker的TESPA/ORTESPA；

    4、NT-MDT的NSG30;

    5、Budget Sensors的Tap300-G;