布魯克 (Bruker) 是表面測量和檢測技術(shù)的，服務(wù)于科研和生產(chǎn)領(lǐng)域。新一代白光干涉儀ContourGT系列結(jié)合了的64位多核操作和分析處理軟件，技術(shù)白光干涉儀（WLI）硬件和的操作簡易性，是歷年來來好的3D光學(xué)表面輪廓儀系統(tǒng)。該系統(tǒng)擁有視野內(nèi)亞埃級至毫米級的垂直計(jì)量范圍，樣品安裝靈活，且具有業(yè)界好高的測量重復(fù)性。ContourGT系列是當(dāng)今生產(chǎn)研究和質(zhì)量控制應(yīng)用中，好廣泛使用和好直觀的3D表面計(jì)量平臺。

應(yīng)用：

    對LED行業(yè)、太陽能行業(yè)、觸摸屏行業(yè)、半導(dǎo)體行業(yè)以及數(shù)據(jù)存儲行業(yè)等，提供非接觸式測量方案，樣品從小至別的微機(jī)電器件（MEMS），大到整個引擎部件，都可以獲得表面形貌、粗糙度、三維輪廓等精準(zhǔn)數(shù)據(jù)

原理：

利用干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關(guān)的其他物理量。測量決定于測量光程差的，干涉條紋每移動一個條紋間距，光程差就改變一個波長(～10-7米)，所以干涉儀是以光波波長為單位測量光程差的，其測量之高是任何其他測量方法所擬的。

特征：

◆ 業(yè)界好高的垂直分辨率，好強(qiáng)大的測量性能；

l 0.5~200倍的放大倍率；

l 任何倍率下亞埃級至毫米級垂直測量量程；

l 高分辨率攝像頭；

◆  測量硬件的設(shè)計(jì)，增強(qiáng)生產(chǎn)環(huán)境中的性和重復(fù)性；

l 較高的震動的容忍度和GR&R測量的能力

l 的自動校準(zhǔn)能力；

◆  多核處理器下運(yùn)行的Vision64? 軟件，大大三維表面測量和分析速度

l 數(shù)據(jù)處理速度幾十倍；

l 分析速度十倍；

l 無以倫比的大量數(shù)據(jù)無縫拼接能力；

◆  高度直觀的用戶界面，擁有業(yè)界好強(qiáng)的實(shí)用性，操作簡便和分析大

l 優(yōu)化的用戶界面大大簡化測量和數(shù)據(jù)分析過程；

l 的可視化操作工具；

l 可自行設(shè)置數(shù)據(jù)輸出的界面；

部分選擇項(xiàng)：

可選300mm可編程控制帶編碼器自動樣品臺

可選操縱手柄

可選聚焦；

可選縫合功能；

參數(shù)：