- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：德國
LAwave薄膜楊氏模量無損測量設(shè)備，技術(shù)源于德國Fraunhofer IWS研究所。利用激光脈沖在薄膜或材料表面激發(fā)起表面聲波，表面聲波在不同材料中的傳播速度不同，可以通過檢測表面聲波的波速實現(xiàn)對薄膜或者材料硬度（楊氏模量/彈性模量）、密度和膜厚的測量。
LAwave薄膜楊氏模量無損測量設(shè)備
表面聲波波速的色散關(guān)系由薄膜與襯底的彈性模量（楊氏模量）、密度和厚度決定。將聲波探測器探測聲波波速的色散關(guān)系與理論模型計算的色散關(guān)系對比，就可以得出薄膜的楊氏模量、密度和厚度等信息。LAwave也可以測量表面有微結(jié)構(gòu)的薄膜和非均勻結(jié)構(gòu)薄膜。
測量原理示意圖
主要特性：
無損測量薄膜的厚度可以從幾納米到幾百微米
檢測材料范圍廣，從聚合物到金剛石
操作簡單方便，測量速度快
小檢測面積：5x5mm
可測量多孔薄膜，表面有微納結(jié)構(gòu)的薄膜
國際測量結(jié)果
主要應(yīng)用領(lǐng)域：
超薄超硬薄膜--防護評估
多孔聚合物薄膜--楊氏模量、密度優(yōu)化
熱噴涂涂層--空隙形態(tài)評估
半導(dǎo)體、LED、光伏產(chǎn)業(yè)晶圓片--亞表面損傷探測
