DIP封裝集成電路老化測試插座 該系列插座適用于DIP封裝的雙列直插式集成電路的老化、測試、篩選及性試驗作連接之用。該產(chǎn)品廣泛運(yùn)用于航空航天、、科研院所、電子、通訊 產(chǎn)品型號及規(guī)格; IC-8J、14J、14G、16J、18J、18J(K)、20J、22G、24J、24Z、28J、40J、64G. 主要技術(shù)指標(biāo); 間距;2.54mm 環(huán)境溫度;-55℃—+155℃ 接觸電阻;≤0.01歐 工作電壓;DC500V 單腳力;≤0.2Kg 彈片金層厚度;1um鎳3um金 插拔壽命;高低溫狀態(tài)下插拔壽命;2000-3000次