Thick-900系列X熒光鍍層測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時(shí)，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)發(fā)射出各自的特征X射線，不同的元素有不同的特征X射線；探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號；經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號并送入計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理；計(jì)算機(jī)的應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息，通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。

我公司集中了國內(nèi)的X熒光分析﹑電子技術(shù)等行業(yè)技術(shù)研究開發(fā)及生產(chǎn)技術(shù)人員，依靠科學(xué)研究，總結(jié)多年的現(xiàn)場應(yīng)用實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，結(jié)合中國的特色，開發(fā)生產(chǎn)出的Thick-900系列X熒光鍍層測厚儀具有快速、準(zhǔn)確、簡便、實(shí)用等優(yōu)點(diǎn)，廣泛用于鍍層厚度的測量、電鍍液濃度的測量。

它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預(yù)處理；分析時(shí)間短，為數(shù)十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測量動(dòng)態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm。

儀器特點(diǎn)：

1． 儀器外觀選用的流線型設(shè)計(jì)，時(shí)尚雅致。

2． 同時(shí)分析元素周期表中由硫(S)到鈾（U）。

3． 可以分析多5層鍍層，可分析元素多達(dá)24種。

4． 無需復(fù)雜的樣品預(yù)處理過程，測試。

5． 檢出限可2ppm。

6． 分析測量動(dòng)態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm 。

7． 采用美國原裝、國際的探測器，能量分辨率高。

8． 采用美國原裝、國際的AMP，處理速度快，高，穩(wěn)定。

9． X光管采用正高壓激發(fā)，激發(fā)與測試條件采用計(jì)算機(jī)軟件數(shù)碼控制與顯示。

10． 采用彩色攝像頭，準(zhǔn)確觀察拍攝樣品。

11． 采用電動(dòng)無控制樣品平臺(tái)，可以進(jìn)行X-Y-Z的移動(dòng)，準(zhǔn)確方便。

12． 采用雙激光對焦系統(tǒng)，準(zhǔn)確定位測量位置。

13． 高度傳感器。

14． 保護(hù)傳感器，保護(hù)探測器。

15． 度高，穩(wěn)定性好，故障率低。

16． 輻射系統(tǒng)：隱蔽式設(shè)計(jì)、軟件、硬件三重射線護(hù)系統(tǒng)多層屏蔽保

 護(hù)，輻射性。

17． WINDOWS XP 中文應(yīng)用軟件，的分析方法，強(qiáng)大的功能，操

   作簡單，使用方便。