CDNY-03AM 光學(xué)膜層厚度測(cè)量控制儀
CDNY-03AM是專為光學(xué)鍍膜設(shè)計(jì)的新一代光學(xué)膜層厚度測(cè)量控制儀。本儀器由于采用窄帶頻率技術(shù)，因而對(duì)信號(hào)諧波和直流漂移具有強(qiáng)的抑制能力。
主要性能指標(biāo)及技術(shù)指標(biāo)
主信號(hào)通道：
信號(hào)輸入方式：單端交流輸入
輸入量程：0.5mV-500mV
信號(hào)頻率范圍：1KHz&plun;5％
本機(jī)頻相噪聲：≤4nV／Hz（折合到輸入端）
性誤差：≤0.1％
點(diǎn)時(shí)源：≤0.2％／h
參考信號(hào)通道：
信號(hào)輸入方式：單端交流輸入
輸入幅度：20-700mV
頻率范圍：≥320.
CDNY-03AM是專為光學(xué)鍍膜設(shè)計(jì)的新一代光學(xué)膜層厚度測(cè)量控制儀。本儀器由于采用窄帶頻率技術(shù)，因而對(duì)信號(hào)諧波和直流漂移具有強(qiáng)的抑制能力。
主要性能指標(biāo)及技術(shù)指標(biāo)
主信號(hào)通道：
信號(hào)輸入方式：單端交流輸入
輸入量程：0.5mV-500mV
信號(hào)頻率范圍：1KHz&plun;5％
本機(jī)頻相噪聲：≤4nV／Hz（折合到輸入端）
性誤差：≤0.1％
點(diǎn)時(shí)源：≤0.2％／h
參考信號(hào)通道：
信號(hào)輸入方式：單端交流輸入
輸入幅度：20-700mV
頻率范圍：≥320.
