儀器描述
　　BCSP光譜儀是一套全波長顯微球面光學(xué)元件光譜分析儀，能快速準(zhǔn)確地測量各類球面/非球面器件的相對/反射率，適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。
　　儀器特點(diǎn)
　　*顯微測定微小領(lǐng)域的反射率物鏡對焦于被測物微小區(qū)域（φ60μm）；
　　*CIE顏色測定　X　Y色度圖，x，y，L，a，b飽和度，主波長等；
　　*檢測速度快探測器，可在1秒內(nèi)時(shí)間重現(xiàn)性高的測定；
　　*消除背面反射光無需進(jìn)行背面反射處理即可快速準(zhǔn)確地測定表面反射率。
　　技術(shù)參數(shù)
　　型號　BCSP（II型）BCSP（III型）
　　檢測范圍　380~880nm　380~1100nm
　　波長分辨率　1nm　1nm
　　相對檢測誤差﹤1%﹤1%
　　測定方法與標(biāo)準(zhǔn)物比較測定
　　被測物再現(xiàn)性±0.1%以下（2σ）（380nm~410nm）±0.05%以下（2σ）（410nm~800nm）±0.1%以下（2σ）（380nm~410nm）±0.05%以下（2σ）（410nm~1000nm）
　　單次測量時(shí)間﹤1s
　　　0.3nm
　　被測物N.A.0.12（使用10×對物鏡時(shí)）0.24（使用20×對物鏡時(shí)）
　　被測物尺寸直徑>1mm
　　厚度>1mm（使用10×對物鏡時(shí)）
　　厚度>0.5mm（使用20×對物鏡時(shí)）
　　被測物
　　測定范圍約φ60μm（使用10×對物鏡時(shí)）約φ30μm（使用20×對物鏡時(shí)）
　　設(shè)備重量約30kg（光源外置）
　　設(shè)備尺寸　300（W）×550（D）×570（H）mm
　　使用環(huán)境水平且無振動的場所
　　溫度：23±5℃
　　濕度：60％以下、無結(jié)露
　　操作系統(tǒng)　Windows　XP，Windows　Vista，Win7
　　軟件分光反射率、物體顏色、單層膜厚（有干涉條紋）和鍍膜（有干涉條紋）折射率測定