AS-300反射率測(cè)試儀器是一款高反射率測(cè)試儀器，可測(cè)量整體反射率值，反射率光譜。操作方便快捷，適用與偏光片反射率測(cè)試，ITO薄膜反射率測(cè)試，TouchPannel反射率測(cè)試，導(dǎo)光板鍍膜膜厚測(cè)試，Low-e玻璃反射率測(cè)試，汽車(chē)車(chē)燈鍍膜膜厚測(cè)試等。
　　
　　儀器功能：
　　AS-300反射率測(cè)試儀器光譜測(cè)量在波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行反射度能量的圖譜掃描，并可進(jìn)行各種數(shù)據(jù)處理如峰谷檢測(cè)、導(dǎo)數(shù)運(yùn)算、譜圖運(yùn)算等。•數(shù)據(jù)輸出可進(jìn)行數(shù)據(jù)文件和參數(shù)文件的存取，測(cè)量結(jié)果以標(biāo)準(zhǔn)通用的數(shù)據(jù)文件格式輸出
　　AS-300反射率測(cè)試儀器技術(shù)參數(shù)
　　波長(zhǎng)：0.2nm
　　校正線性度：99.8%
　　測(cè)量誤差：1%以下
　　單次測(cè)量時(shí)間：小100ms
　　功耗：200W
　　電源：210~245V，60Hz
　　信號(hào)接口：U2.0
　　操作系統(tǒng)：windows
　　波長(zhǎng)范圍：200-1100 nm
　　數(shù)輸速率：每4ms 一個(gè)全掃描入存儲(chǔ)器（U2.0接口），18ms（U1.1）
　　每300ms 一個(gè)全掃描入存儲(chǔ)器（串行口）
　　探測(cè)器：3648像素的線型硅CCD 陣列 8um×20um
　　光柵：14種光柵，波長(zhǎng)從紫外到近紅外
　　積分時(shí)間：10um〜65min
　　入射孔徑：寬5，10，25，50，100或200um 的狹縫或光纖（無(wú)狹縫）
　　光纖連接：SMA905接口，與0.22NA 的單股光纖相連
　　各類(lèi)濾波片：長(zhǎng)波通或帶通濾波片，安裝在光譜儀內(nèi)
　　電子控制：8個(gè)數(shù)字GPIO 接口電子快門(mén)控制（短10um）
　　焦距：42 mm（輸入），68 mm（輸出）
　　光學(xué)分辨率：0.3 nm FWHM（與光柵和狹縫寬度的選擇有關(guān)）
　　動(dòng)態(tài)范圍：2×108（系統(tǒng)），1300：1（單個(gè)掃描信號(hào)）
　　
　　AS-300反射率測(cè)試儀器主要特點(diǎn)：
　　•設(shè)計(jì)的優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng)，的全息閃耀光柵，了儀器的低雜。
　　•雙光束測(cè)光系統(tǒng)，配合設(shè)計(jì)的電路測(cè)控系統(tǒng)。使儀器具有高度的穩(wěn)定性和
　　低的噪聲。
　　全自動(dòng)的控制系統(tǒng)，的設(shè)計(jì)理念，儀器具有高性和高穩(wěn)定性。
　　•可拆卸結(jié)構(gòu)的樣品室設(shè)計(jì)，易于更換不同的附件。以滿足不同的分析需求。
　　•寬敞型開(kāi)放式光源室設(shè)計(jì)，使燈源更換更加方便。
　　•部件均選用器件。了儀器性能的高性。
　　•windows 環(huán)境下開(kāi)發(fā)的中英文操作軟件，具有多項(xiàng)技術(shù)。提供了豐富的特色的分析功能。