聲學(xué)掃描顯微鏡是一種非破壞性的檢測組件的完整性，內(nèi)部結(jié)構(gòu)和材料的內(nèi)部情況的儀器，作為檢測分析中的一種，它可以實現(xiàn)在不破壞物料電氣能和保持結(jié)構(gòu)完整性的前提下對物料進行檢測。被廣泛的應(yīng)用在物料檢測（IQC）、失效分析（FA）、質(zhì)量控制（QC）、質(zhì)量及性（QA/REL）、研發(fā)（R＆D）等領(lǐng)域。
　　
　　其可以檢測：1.材料內(nèi)部的晶格結(jié)構(gòu)，雜質(zhì)顆粒；2.內(nèi)部裂紋；3.分層缺陷；4.空洞、氣泡、空隙等等
　　
　　在聲學(xué)顯微成像（AMI：Acoustic Micro Imaging）技術(shù)應(yīng)用于內(nèi)部品質(zhì)檢測與分析方面，Sonoscan一直是該行業(yè)的之一。Sonoscan系統(tǒng)被視為基準，通過我們的SonoLab部門，您可以向我們的聲學(xué)應(yīng)用工程師進行咨詢，獲取意見和指導(dǎo)。Sonoscan致力于通過教育項目、客戶應(yīng)用程序評估與新系統(tǒng)開發(fā)來實現(xiàn)AMI技術(shù)的持續(xù)改進。
　　
　　對AMI技術(shù)的研究是Sonoscan工作的。我們努力提供的數(shù)據(jù)性、出眾的圖像質(zhì)量和的技術(shù)。我們在AMI技術(shù)方面還擁有多項美國和外國?？傊?，Sonoscan是您值得信任的伙伴，我們可以為您節(jié)省成本并效率。
　　
　　Sonoscan C-SAM D9500是一種新型AMI標(biāo)準儀器，可以提供出眾的度和穩(wěn)定性，適合破損分析、工藝開發(fā)以及材料分析與表征。聲波探頭頻率：5M到400M 聲波掃描模式：A-Scan（某點掃描）、B-Scan（塊掃描）、C-Scan（層掃描）、Multi-Scan（多層掃描）、Q-BAM（虛擬橫截面）、T-Scan（穿透式掃描）、3-V（3維圖像）、Tray-Scan（盤掃描）。

　　掃描范圍：12.9X12.4英寸
　　分辨率：8192X8192
　　選擇的聲波寬度：0.25納秒到1微秒
　　Z軸分辨率：80納米。