半自動(dòng)臺(tái)的牛津儀器鍍層測(cè)厚儀X-Strata920介紹
牛津鍍層測(cè)厚儀X-Strata920：是X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，利用X射線照射產(chǎn)品，產(chǎn)品的不同元素產(chǎn)生不同的X射線熒光，儀器分析X射線熒光的波長(zhǎng)和能量，從而計(jì)算出不同元素的膜厚。是牛津儀器新開(kāi)發(fā)的新一代鍍層測(cè)厚儀；是CMI900的升級(jí)換代產(chǎn)品，系統(tǒng)軟件、硬件均進(jìn)行了更新。具有非破壞、非接觸、測(cè)量的能力；一鍵定焦，避免人為操作誤差；快速簡(jiǎn)潔，需10秒即可得出測(cè)量結(jié)果；測(cè)量輸出多樣化。
應(yīng)用行業(yè)：
PCB、FPC、LED、連接器、端子、電阻和電容等電子元件、螺栓和彈簧等五金產(chǎn)品、衛(wèi)浴潔具、汽車(chē)部件、功能性電鍍件、裝飾件、飾飾品等多個(gè)行業(yè)、檢測(cè)機(jī)構(gòu)和科研院校。
鍍層膜厚儀的特點(diǎn)：
可測(cè)元素：鈦Ti22---鈾U92間各元素；
可測(cè)鍍層：5層鍍層（含基材層），15種元素共存校正；
測(cè)量時(shí)間約10秒，快速得出測(cè)量結(jié)果；
測(cè)量結(jié)果到微英寸；
測(cè)量結(jié)果可包含：數(shù)據(jù)、被測(cè)樣品點(diǎn)圖片、各種統(tǒng)計(jì)報(bào)表、；
提供貴屬分析和金純度檢查（即Au karat評(píng)價(jià)）；
提供NIST的標(biāo)準(zhǔn)片；
享有的服務(wù)與支持。
測(cè)量：
膜厚≤20μin（0.5um）時(shí)，測(cè)量誤差值為：層±1μin，第二層±2μin，第二層±3μin
膜厚＞20μin（0.5um）時(shí)，測(cè)量誤差值為：層±5%，第二層±10%，第二層±15%
技術(shù)參數(shù)
X射線激發(fā)系統(tǒng)：
50W（50KV，1.0mA）微聚焦型鎢靶X射線管，提供更小的X射線斑點(diǎn)，增加計(jì)數(shù)率；
垂直下照式X射線光學(xué)系統(tǒng)；
配備射線光閘
準(zhǔn)直器系統(tǒng)：
可選：?jiǎn)螠?zhǔn)直器組件、多準(zhǔn)直器組件（可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器），
準(zhǔn)直器具有多種形狀和規(guī)格尺寸
準(zhǔn)直器的形狀：圓形、正方形、矩形
準(zhǔn)直器規(guī)格尺寸：
圓形準(zhǔn)直器：Φ0.1、0.15、0.2、0.3、0.33mm等，
矩形準(zhǔn)直器：0.025x0.05、0.05x0.05、0.013x0.254、0.254x0.254、0.051x0.254mm等
樣品室：
開(kāi)槽式樣品室，
Z軸自動(dòng)控制，移動(dòng)行程：43mm，
XY軸手動(dòng)控制，
工作臺(tái)面為分：固定樣品臺(tái)、加深樣品臺(tái)（標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)）和自定義樣品臺(tái)；
樣品臺(tái)：
固定樣品臺(tái)：
樣品高度33mm，
儀器外形尺寸（寬×深×高）：407×770×305mm
加深樣品臺(tái)：
樣品高度160mm，
樣品倉(cāng)均布有4個(gè)位置卡槽，卡槽間垂直間距25.4mm，方便測(cè)量不同高度的樣品，
樣品倉(cāng)內(nèi)部尺寸（寬×深×高）：279×508×152mm，
儀器外形尺寸（寬×深×高）：407×770×400mm
自定義樣品臺(tái)：
依據(jù)客戶(hù)要求，可提供更高的樣品臺(tái)滿(mǎn)足高度＞160mm的樣品測(cè)量，樣品倉(cāng)均布有4個(gè)位置卡槽，卡槽垂直間距25.4mm，
樣品觀察系統(tǒng)：
高分辨率彩色CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)放大倍數(shù)為30倍，
50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選，
結(jié)果輸出：
測(cè)量結(jié)果可直接打印、導(dǎo)出到PDF文件、Excel文件，
測(cè)量結(jié)果可包含：數(shù)據(jù)、圖像、統(tǒng)計(jì)圖表、logo和、可用系統(tǒng)預(yù)置模板或自制模板，
統(tǒng)計(jì)圖表包含：平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、值、小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖、數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖
牛津鍍層測(cè)厚儀X-Strata920：是X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，利用X射線照射產(chǎn)品，產(chǎn)品的不同元素產(chǎn)生不同的X射線熒光，儀器分析X射線熒光的波長(zhǎng)和能量，從而計(jì)算出不同元素的膜厚。是牛津儀器新開(kāi)發(fā)的新一代鍍層測(cè)厚儀；是CMI900的升級(jí)換代產(chǎn)品，系統(tǒng)軟件、硬件均進(jìn)行了更新。具有非破壞、非接觸、測(cè)量的能力；一鍵定焦，避免人為操作誤差；快速簡(jiǎn)潔，需10秒即可得出測(cè)量結(jié)果；測(cè)量輸出多樣化。
應(yīng)用行業(yè)：
PCB、FPC、LED、連接器、端子、電阻和電容等電子元件、螺栓和彈簧等五金產(chǎn)品、衛(wèi)浴潔具、汽車(chē)部件、功能性電鍍件、裝飾件、飾飾品等多個(gè)行業(yè)、檢測(cè)機(jī)構(gòu)和科研院校。
鍍層膜厚儀的特點(diǎn)：
可測(cè)元素：鈦Ti22---鈾U92間各元素；
可測(cè)鍍層：5層鍍層（含基材層），15種元素共存校正；
測(cè)量時(shí)間約10秒，快速得出測(cè)量結(jié)果；
測(cè)量結(jié)果到微英寸；
測(cè)量結(jié)果可包含：數(shù)據(jù)、被測(cè)樣品點(diǎn)圖片、各種統(tǒng)計(jì)報(bào)表、；
提供貴屬分析和金純度檢查（即Au karat評(píng)價(jià)）；
提供NIST的標(biāo)準(zhǔn)片；
享有的服務(wù)與支持。
測(cè)量：
膜厚≤20μin（0.5um）時(shí)，測(cè)量誤差值為：層±1μin，第二層±2μin，第二層±3μin
膜厚＞20μin（0.5um）時(shí)，測(cè)量誤差值為：層±5%，第二層±10%，第二層±15%
技術(shù)參數(shù)
X射線激發(fā)系統(tǒng)：
50W（50KV，1.0mA）微聚焦型鎢靶X射線管，提供更小的X射線斑點(diǎn)，增加計(jì)數(shù)率；
垂直下照式X射線光學(xué)系統(tǒng)；
配備射線光閘
準(zhǔn)直器系統(tǒng)：
可選：?jiǎn)螠?zhǔn)直器組件、多準(zhǔn)直器組件（可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器），
準(zhǔn)直器具有多種形狀和規(guī)格尺寸
準(zhǔn)直器的形狀：圓形、正方形、矩形
準(zhǔn)直器規(guī)格尺寸：
圓形準(zhǔn)直器：Φ0.1、0.15、0.2、0.3、0.33mm等，
矩形準(zhǔn)直器：0.025x0.05、0.05x0.05、0.013x0.254、0.254x0.254、0.051x0.254mm等
樣品室：
開(kāi)槽式樣品室，
Z軸自動(dòng)控制，移動(dòng)行程：43mm，
XY軸手動(dòng)控制，
工作臺(tái)面為分：固定樣品臺(tái)、加深樣品臺(tái)（標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)）和自定義樣品臺(tái)；
樣品臺(tái)：
固定樣品臺(tái)：
樣品高度33mm，
儀器外形尺寸（寬×深×高）：407×770×305mm
加深樣品臺(tái)：
樣品高度160mm，
樣品倉(cāng)均布有4個(gè)位置卡槽，卡槽間垂直間距25.4mm，方便測(cè)量不同高度的樣品，
樣品倉(cāng)內(nèi)部尺寸（寬×深×高）：279×508×152mm，
儀器外形尺寸（寬×深×高）：407×770×400mm
自定義樣品臺(tái)：
依據(jù)客戶(hù)要求，可提供更高的樣品臺(tái)滿(mǎn)足高度＞160mm的樣品測(cè)量，樣品倉(cāng)均布有4個(gè)位置卡槽，卡槽垂直間距25.4mm，
樣品觀察系統(tǒng)：
高分辨率彩色CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)放大倍數(shù)為30倍，
50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選，
結(jié)果輸出：
測(cè)量結(jié)果可直接打印、導(dǎo)出到PDF文件、Excel文件，
測(cè)量結(jié)果可包含：數(shù)據(jù)、圖像、統(tǒng)計(jì)圖表、logo和、可用系統(tǒng)預(yù)置模板或自制模板，
統(tǒng)計(jì)圖表包含：平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、值、小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖、數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖
