新品（免拆分）
??？配置新技術(shù)“樣品免拆分”檢測模式：采用新技術(shù)的光路結(jié)構(gòu)，小照射光斑直徑可0.5mm，輔以的光斑定位系統(tǒng)，從而可以實(shí)現(xiàn)對(duì)復(fù)雜樣品進(jìn)行免拆分直接測量的要求
??？配置合中國標(biāo)準(zhǔn)的樣品混測功能：方形4mmX4mm光斑設(shè)計(jì)，配合0.5mm光斑配合使用，能夠?qū)﹄娐钒宓葟?fù)雜樣品實(shí)現(xiàn)“免拆分”區(qū)域掃描測量功能；從而顯著節(jié)省測量時(shí)間，大幅度檢測效率
??？配置ON-Line實(shí)時(shí)在線技術(shù)支持系統(tǒng)（選配）：實(shí)時(shí)解決用戶在使用過程中的疑難技術(shù)問題，同時(shí)對(duì)用戶操作人員進(jìn)行培訓(xùn)
?。颗渲檬M復(fù)合濾光片：NDA200型配置了16組復(fù)合型濾光片，是業(yè)界配置全、數(shù)目多的配置之一；16組濾光片的配置，大的了XRF分析儀針對(duì)各種復(fù)雜樣品檢測的適應(yīng)性
??？內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)工作曲線：儀器內(nèi)置了滿足EU-RoHS以及CHINA-RoHS產(chǎn)品要求的基礎(chǔ)材料的工作曲線，；并與指定的檢測實(shí)驗(yàn)室保持一致
??？具備開放的工作曲線技術(shù)平臺(tái)：基于開放的工作曲線技術(shù)平臺(tái)，電子生產(chǎn)企業(yè)可以建立針對(duì)自己工廠特定物料的工作曲線，XRF分析儀檢測結(jié)果的性和準(zhǔn)確性
？分析軟件操作系統(tǒng)分級(jí)管理：儀器系統(tǒng)軟件配置了操作員、工程師兩級(jí)操作功能菜單，便于工廠有序管理；菜單簡單直觀，避免儀器重要參數(shù)的誤修改；工程師菜單大，儀器的各種參數(shù)設(shè)置權(quán)限開放給用戶
?。坎捎媒?jīng)典的迷宮式輻射護(hù)結(jié)構(gòu)：采用了迷宮式輻射護(hù)結(jié)構(gòu)，在保持儀器外形美觀操作方便時(shí)，徹底散射X射線的泄露
??？可選配技術(shù)“影響權(quán)系數(shù)法”多層鍍層測厚功能：納優(yōu)科技的“影響權(quán)系數(shù)法”多層鍍層測厚技術(shù)，顯著鍍層厚度測量的準(zhǔn)確度；可測量鍍層數(shù)量為9層；徹底解決了常規(guī)XRF測厚方法所不能解決的塑料基體鍍層厚度測量的技術(shù)難題
分析方法及系統(tǒng)軟件
分析方法配置：
？基于蒙特卡洛計(jì)算模型的基本參數(shù)法
？經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法
??？理論α系數(shù)法
軟件功能描述：
?。縍oHS指令、無鹵指令等指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
?。扛鞣N金屬材料、無機(jī)非金屬材料（不包括聚合物材料）的材質(zhì)分析（S～U元素）
？聚合物等材料中硫（S）～鈾（U）元素的含量分析
?。糠治龅淖灾鞫ㄖ婆c輸出打印
??？分析結(jié)果的保存、查詢及統(tǒng)計(jì)
??？On-Line實(shí)時(shí)在線技術(shù)支持與技術(shù)服務(wù)功能
??？多層鍍層厚度測量功能（選配）
主要配置
??？美國Si-PIN電制冷半導(dǎo)體探測器
？側(cè)窗鉬（Mo）靶管
??？標(biāo)配16組復(fù)合濾光片
??？配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四種準(zhǔn)直器
??？具備合中國標(biāo)準(zhǔn)的樣品混側(cè)功能
？內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)工作曲線
?。颗渲肙n-line實(shí)時(shí)在線技術(shù)支持與服務(wù)平臺(tái)
??？具備開放工作曲線技術(shù)平臺(tái)
？分析軟件操作系統(tǒng)分級(jí)管理
產(chǎn)品參數(shù)
輸入電壓：220&plun;5V/50Hz
消耗功率：≤500W
環(huán)境溫度：15-30℃
環(huán)境濕度：≤80%（不結(jié)露）
主機(jī)外形（mm）：長＊寬＊高＝900*500*440
樣品倉（mm）：長＊寬＊高＝430*380*120
主機(jī)重量：約60公斤
技術(shù)指標(biāo)
元素種類：元素周期表中硫（S）～鈾（U）之間元素
測量時(shí)間：
對(duì)聚合物材料，典型測量時(shí)間為200秒
對(duì)銅基體材料，典型測量時(shí)間為400秒
??？配置新技術(shù)“樣品免拆分”檢測模式：采用新技術(shù)的光路結(jié)構(gòu)，小照射光斑直徑可0.5mm，輔以的光斑定位系統(tǒng)，從而可以實(shí)現(xiàn)對(duì)復(fù)雜樣品進(jìn)行免拆分直接測量的要求
??？配置合中國標(biāo)準(zhǔn)的樣品混測功能：方形4mmX4mm光斑設(shè)計(jì)，配合0.5mm光斑配合使用，能夠?qū)﹄娐钒宓葟?fù)雜樣品實(shí)現(xiàn)“免拆分”區(qū)域掃描測量功能；從而顯著節(jié)省測量時(shí)間，大幅度檢測效率
??？配置ON-Line實(shí)時(shí)在線技術(shù)支持系統(tǒng)（選配）：實(shí)時(shí)解決用戶在使用過程中的疑難技術(shù)問題，同時(shí)對(duì)用戶操作人員進(jìn)行培訓(xùn)
?。颗渲檬M復(fù)合濾光片：NDA200型配置了16組復(fù)合型濾光片，是業(yè)界配置全、數(shù)目多的配置之一；16組濾光片的配置，大的了XRF分析儀針對(duì)各種復(fù)雜樣品檢測的適應(yīng)性
??？內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)工作曲線：儀器內(nèi)置了滿足EU-RoHS以及CHINA-RoHS產(chǎn)品要求的基礎(chǔ)材料的工作曲線，；并與指定的檢測實(shí)驗(yàn)室保持一致
??？具備開放的工作曲線技術(shù)平臺(tái)：基于開放的工作曲線技術(shù)平臺(tái)，電子生產(chǎn)企業(yè)可以建立針對(duì)自己工廠特定物料的工作曲線，XRF分析儀檢測結(jié)果的性和準(zhǔn)確性
？分析軟件操作系統(tǒng)分級(jí)管理：儀器系統(tǒng)軟件配置了操作員、工程師兩級(jí)操作功能菜單，便于工廠有序管理；菜單簡單直觀，避免儀器重要參數(shù)的誤修改；工程師菜單大，儀器的各種參數(shù)設(shè)置權(quán)限開放給用戶
?。坎捎媒?jīng)典的迷宮式輻射護(hù)結(jié)構(gòu)：采用了迷宮式輻射護(hù)結(jié)構(gòu)，在保持儀器外形美觀操作方便時(shí)，徹底散射X射線的泄露
??？可選配技術(shù)“影響權(quán)系數(shù)法”多層鍍層測厚功能：納優(yōu)科技的“影響權(quán)系數(shù)法”多層鍍層測厚技術(shù)，顯著鍍層厚度測量的準(zhǔn)確度；可測量鍍層數(shù)量為9層；徹底解決了常規(guī)XRF測厚方法所不能解決的塑料基體鍍層厚度測量的技術(shù)難題
分析方法及系統(tǒng)軟件
分析方法配置：
？基于蒙特卡洛計(jì)算模型的基本參數(shù)法
？經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法
??？理論α系數(shù)法
軟件功能描述：
?。縍oHS指令、無鹵指令等指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
?。扛鞣N金屬材料、無機(jī)非金屬材料（不包括聚合物材料）的材質(zhì)分析（S～U元素）
？聚合物等材料中硫（S）～鈾（U）元素的含量分析
?。糠治龅淖灾鞫ㄖ婆c輸出打印
??？分析結(jié)果的保存、查詢及統(tǒng)計(jì)
??？On-Line實(shí)時(shí)在線技術(shù)支持與技術(shù)服務(wù)功能
??？多層鍍層厚度測量功能（選配）
主要配置
??？美國Si-PIN電制冷半導(dǎo)體探測器
？側(cè)窗鉬（Mo）靶管
??？標(biāo)配16組復(fù)合濾光片
??？配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四種準(zhǔn)直器
??？具備合中國標(biāo)準(zhǔn)的樣品混側(cè)功能
？內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)工作曲線
?。颗渲肙n-line實(shí)時(shí)在線技術(shù)支持與服務(wù)平臺(tái)
??？具備開放工作曲線技術(shù)平臺(tái)
？分析軟件操作系統(tǒng)分級(jí)管理
產(chǎn)品參數(shù)
輸入電壓：220&plun;5V/50Hz
消耗功率：≤500W
環(huán)境溫度：15-30℃
環(huán)境濕度：≤80%（不結(jié)露）
主機(jī)外形（mm）：長＊寬＊高＝900*500*440
樣品倉（mm）：長＊寬＊高＝430*380*120
主機(jī)重量：約60公斤
技術(shù)指標(biāo)
元素種類：元素周期表中硫（S）～鈾（U）之間元素
測量時(shí)間：
對(duì)聚合物材料，典型測量時(shí)間為200秒
對(duì)銅基體材料，典型測量時(shí)間為400秒
