新品(免拆分)
應(yīng)用領(lǐng)域
RoHS指令篩選檢測
分析方法及系統(tǒng)軟件
分析方法配置:
基于蒙特卡洛計算模型的基本參數(shù)法
經(jīng)驗系數(shù)法
理論α系數(shù)法
軟件功能描述:
RoHS指令、無鹵指令等指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
各種金屬材料、無機非金屬材料(不包括聚合物材料)的材質(zhì)分析(S~U元素)
聚合物等材料中硫(S)~鈾(U)元素的含量分析
分析的自主定制與輸出打印
分析結(jié)果的保存、查詢及統(tǒng)計
On-Line實時在線技術(shù)支持與技術(shù)服務(wù)功能(選配)
多層鍍層厚度測量功能(選配)
主要配置
美國Si-PIN電制冷半導(dǎo)體探測器
側(cè)窗鉬(Mo)靶管
標(biāo)配12組復(fù)合濾光片
配置了Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四種準(zhǔn)直器
具備合中國標(biāo)準(zhǔn)的樣品混側(cè)功能
內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)工作曲線
具備開放工作曲線技術(shù)平臺
分析軟件操作系統(tǒng)分級管理
產(chǎn)品參數(shù)
名稱:X熒光光譜儀
型號:NaU1000
輸入電壓:220&plun;5V/50Hz
消耗功率:≤500W
環(huán)境溫度:15-30℃
環(huán)境濕度:≤80%(不結(jié)露)
主機外形(mm):長*寬*高=820*500*425
樣品倉(mm):長*寬*高=430*380*105
主機重量:約55公斤
技術(shù)指標(biāo)
元素種類:元素周期表中硫(S)~鈾(U)之間元素
測量時間:
對聚合物材料,典型測量時間為300秒
對銅基體材料,典型測量時間為600秒
檢出限指標(biāo)(LOD):
對聚合物材料:LOD(Pb)≤5mg/Kg;LOD(Hg)≤5mg/Kg;LOD(TCr)≤5mg/Kg;LOD(TBr)≤5mg/Kg;LOD(Cd)≤5mg/Kg
對銅基體材料:LOD(Pb)≤50mg/Kg
精密度指標(biāo),以連續(xù)測量7次的標(biāo)準(zhǔn)偏差σ表征:
對聚合物(塑膠)材料:LOD(Pb)≤15mg/Kg;LOD(Hg)≤15mg/Kg;LOD(TCr)≤15mg/Kg;LOD(TBr)≤15mg/Kg;LOD(Cd)≤7mg/Kg
對銅基體材料:LOD(Pb)≤50mg/Kg
準(zhǔn)確度指標(biāo),以系統(tǒng)偏差δ進行表征
對聚合物材料:δ(Pb)≤100mg/Kg;δ(Hg)≤100mg/Kg;δ(TBr)≤100mg/Kg;δ(TCr)≤100mg/Kg;δ(Cd)≤10mg/Kg