特點(diǎn):

• 在基本I功能基礎(chǔ)上增加擴(kuò)展的上電功能。

• I標(biāo)準(zhǔn)雙面探針結(jié)構(gòu)和的功能測(cè)試，可達(dá)5200個(gè)測(cè)試點(diǎn)。

• 250 VAC (rms) 整流能力。

• 直流源, 正玄波和方形波, 功率, 數(shù)字信號(hào)。

• 可測(cè)量AC/DC電壓, 阻, 頻率, 周期。

• 處理電路板尺寸24 x 13.2 inches (61 x 33.5 cm)

概述：

結(jié)合了I和功能測(cè)試，提供高故障率測(cè)試在一個(gè)平臺(tái)，由客戶自行定制各種測(cè)試需求。

功能測(cè)試

• 數(shù)字萬用表測(cè)量AC/DC電壓和低阻。

• 計(jì)數(shù)器/定時(shí)器測(cè)量振蕩器的頻率或時(shí)期

• 函數(shù)發(fā)生器提供DC源、正玄波和方形波。

• 數(shù)字I / O提供邏輯源、傳感和控制外部硬件,或直接控制外部繼電器

• 繼電器多路器可分配用于測(cè)量電壓大于正負(fù)12v或者低阻的要路徑。

定制的或更復(fù)雜的功能測(cè)試需求,系統(tǒng)可以通過ieee - 488控制器控制GPIB儀器。

In Circuit Tests

Opens/Shorts開短路測(cè)試
電阻測(cè)量
電容測(cè)量
電感測(cè)量
電壓測(cè)量

晶體管測(cè)試

繼電器測(cè)試
二管測(cè)試
齊納二管測(cè)試

發(fā)光二管測(cè)試

變壓器測(cè)試
IC測(cè)試
電容性測(cè)試

數(shù)字 I/O
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