高低溫試驗(yàn)箱：
　　高低溫試驗(yàn)箱適用于電子電工產(chǎn)品、儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)、低溫恒溫及儲(chǔ)存；可程式高低溫試驗(yàn)箱適用于光纖、晶體、精密電感、PCB、LCD等產(chǎn)品的高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)。
　　
　　可程式高低溫試驗(yàn)箱詳細(xì)資料：
　　特點(diǎn)：
　　可程式高低溫試驗(yàn)箱采用按鍵式溫度控制器，PID算法，LCD顯示設(shè)定和測(cè)量溫度，溫度控制穩(wěn)定，操作簡(jiǎn)單，程式編輯容易；
　　可程式高低溫箱的送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，避免了氣流在箱內(nèi)流通角，了產(chǎn)品溫度均勻度；
　　全封閉壓縮機(jī)＋冷媒＋機(jī)械式單級(jí)/復(fù)迭低溫回路系統(tǒng)，制冷，性高；
　　完善的保護(hù)裝置，產(chǎn)品的運(yùn)行更加；
　　可程式高低溫試驗(yàn)箱多樣的溫度控制器可供用戶(hù)選擇。
　　
　　執(zhí)行與滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)
　　1.GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　2.GB/T11158-1989高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　3.GB/T10592-1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　4.GB/T2423.1-2001 IEC60068-2-1試驗(yàn)A規(guī)程：低溫試驗(yàn)方法
　　5.GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2試驗(yàn)B規(guī)程：高溫試驗(yàn)方法
　　6.GB/T2423.22-1987試驗(yàn)溫度變化試驗(yàn)方法
　　7.G150.3-1986高溫試驗(yàn)
　　8.G150.4-1986低溫試驗(yàn)
　　9.IEC68-2-14試驗(yàn)N