產(chǎn)品名稱(chēng)：冷熱沖擊試驗(yàn)箱
　　產(chǎn)品型號(hào)：LA-TS
　　冷熱沖擊試驗(yàn)箱概述：
　　冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于確定電工電子產(chǎn)品在貯存、運(yùn)輸和使用期間可能遇到的溫度變化的條件下的適應(yīng)性。
　　
　　冷熱沖擊試驗(yàn)箱詳細(xì)資料
　　用途：
　　溫沖試驗(yàn)箱適用于電子、電工產(chǎn)品和其他設(shè)備在周?chē)髿鉁囟燃眲∽兓瘲l件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，也是篩選電子元器件初期故障的助手。
　　執(zhí)行與滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)
　　1、GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法；
　　2、GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；
　　3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；
　　4、G150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；
　　5、G360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；
　　6、G367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。