CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點，在質量管理到不良品分析有著廣泛的應用。用于電子元器件，半導體，PCB，汽車部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個行業(yè)。
　　
　　主要特點
　　樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體（鍍液中的元素含量）
　　可檢測元素范圍：Ti22–U92
　　可同時測定5層/15種元素
　　高、穩(wěn)定性好
　　強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能
　　測量范圍寬
　　NIST的標準片
　　服務及支持
　　
　　技術參數(shù)
　　主要規(guī)格規(guī)格描述
　　X射線激發(fā)系統(tǒng)垂直上照式X射線光學系統(tǒng)
　　空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
　　標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、AG等
　　功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）−標準　75W（4-50kV，0-1.5mA）−任選
　　裝備有射線光閘
　　二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
　　準直器程控交換系統(tǒng)多可同時裝配6種規(guī)格的準直器
　　多種規(guī)格尺寸準直器任選：−圓形，如4、6、8、12、20　mil等−矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
　　測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時，小測量斑點尺寸為：0.078　x　0.055　mm（使用0.025　x　0.05　mm準直器）
　　在12.7mm聚焦距離時，測量斑點尺寸為：0.38　x　0.42　mm（使用0.3mm準直器）
　　
　　樣品室　CMI900　CMI950
　　−樣品室結構開槽式樣品室開閉式樣品室
　　−樣品臺尺寸　610mm　x　610mm　300mm　x　300mm
　　−XY軸程控移動范圍標準：152.4　x　177.8mm　還有5種規(guī)格任選　300mm　x　300mm
　　−Z軸程控移動高度　43.18mm　XYZ程控時，152.4mm　XY軸手動時，269.2mm
　　−XYZ三軸控制方式多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
　　−樣品觀察系統(tǒng)高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標準放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。
　　
　　激光自動對焦功能
　　可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
　　計算機系統(tǒng)配置　IBM計算機惠普或愛普生彩色噴墨打印機
　　分析應用軟件操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺分析軟件包：SmartLink　FP軟件包
　　−測厚范圍可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。
　　−基本分析功能采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應用提供要的校正用標準樣品。
　　
　　樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體（鍍液中的元素含量）
　　可檢測元素范圍：Ti22–U92
　　可同時測定5層/15種元素/共存元素校正
　　貴金屬檢測，如Au　karat評價
　　材料和合金元素分析，
　　材料鑒別和分類檢測
　　液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
　　多達4個樣品的光譜同時顯示和比較
　　元素光譜定性分析
　　−調(diào)整和校正功能系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能，自動消除系統(tǒng)漂移