尺寸 190 x 265 x 316 mm
重量 12Kg
類型 手動的
測量樣本大小 ≤ 4"
測量方法 非接觸式
測量原理 反射計
特征 測量，操作簡單
非接觸式，非破壞方式
的重復性和再現(xiàn)性
用戶易操作界面
每個影像打印和數(shù)據保存功能
可測量多達3層
可背面反射
活動范圍 150 x 120mm（70 x 50mm 移動距離）
測量范圍 200Å～ 35㎛（根據膜的類型）
光斑尺寸 20㎛ 典型值
測量速度 1～2 sec。／site
應用領域 聚合體： PVA， PET， PP， PR 。。。
電解質：
半導體： Poly-Si， GaAs， GaN， InP， ZnS。。。
選擇 參考樣品（K-MAC or KRISS or NIST）
探頭類型 三目探頭
nosepiece Quadruple Revolving Mechani with Inward Tilt
照明類型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device?。Αransformer
重量 12Kg
類型 手動的
測量樣本大小 ≤ 4"
測量方法 非接觸式
測量原理 反射計
特征 測量，操作簡單
非接觸式，非破壞方式
的重復性和再現(xiàn)性
用戶易操作界面
每個影像打印和數(shù)據保存功能
可測量多達3層
可背面反射
活動范圍 150 x 120mm（70 x 50mm 移動距離）
測量范圍 200Å～ 35㎛（根據膜的類型）
光斑尺寸 20㎛ 典型值
測量速度 1～2 sec。／site
應用領域 聚合體： PVA， PET， PP， PR 。。。
電解質：
半導體： Poly-Si， GaAs， GaN， InP， ZnS。。。
選擇 參考樣品（K-MAC or KRISS or NIST）
探頭類型 三目探頭
nosepiece Quadruple Revolving Mechani with Inward Tilt
照明類型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device?。Αransformer
