應(yīng)用領(lǐng)域
RoHS指令篩選檢測(cè)
無(wú)鹵指令篩選檢測(cè)
玩具指令篩選檢測(cè)
金屬鍍層測(cè)厚
合金成分分析
技術(shù)特點(diǎn)
配置新技術(shù)“樣品免拆分”檢測(cè)模式：采用新技術(shù)的光路結(jié)構(gòu)，小照射光斑直徑可0.5mm，輔以的光斑定位系統(tǒng)，從而可以實(shí)現(xiàn)對(duì)復(fù)雜樣品進(jìn)行免拆分直接測(cè)量的要求
配置合中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)的樣品混測(cè)功能：方形4mmX4mm光斑設(shè)計(jì)，配合0.5mm光斑配合使用，能夠?qū)﹄娐钒宓葟?fù)雜樣品實(shí)現(xiàn)“免拆分”區(qū)域掃描測(cè)量功能；從而顯著節(jié)省測(cè)量時(shí)間，大幅度檢測(cè)效率
分析軟件操作系統(tǒng)分級(jí)管理：儀器系統(tǒng)軟件配置了操作員、工程師兩級(jí)操作功能菜單，便于工廠有序管理；操作員菜單簡(jiǎn)單直觀，避免儀器重要參數(shù)的誤修改；工程師菜單大，儀器的各種參數(shù)設(shè)置權(quán)限開放給用戶
采用經(jīng)典的迷宮式輻射護(hù)結(jié)構(gòu)：采用了經(jīng)典的迷宮式輻射護(hù)結(jié)構(gòu)，在保持儀器外形美觀操作方便的同時(shí)，徹底散射X射線的泄露
可選配技術(shù)“影響權(quán)系數(shù)法”多層鍍層測(cè)厚功能：納優(yōu)科技的“影響權(quán)系數(shù)法”多層鍍層測(cè)厚技術(shù)，顯著鍍層厚度測(cè)量的準(zhǔn)確度；可測(cè)量鍍層數(shù)量為9層；徹底解決了常規(guī)XRF測(cè)厚方法所不能解決的塑料基體鍍層厚度測(cè)量的技術(shù)難題
外觀設(shè)計(jì)實(shí)用美觀：合人體工程學(xué)的儀器外形設(shè)計(jì)，操作人員測(cè)量過(guò)程方便舒適
分析方法及系統(tǒng)軟件
分析方法配置：
基于蒙特卡洛計(jì)算模型的基本參數(shù)法
經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法
理論α系數(shù)法
軟件功能描述：
RoHS指令、無(wú)鹵指令等指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
各種金屬材料、無(wú)機(jī)非金屬材料（不包括聚合物材料）的材質(zhì)分析（S～U元素）
聚合物等材料中硫（S）～鈾（U）元素的含量分析
分析的自主定制與輸出打印
分析結(jié)果的保存、查詢及統(tǒng)計(jì)
On-Line實(shí)時(shí)在線技術(shù)支持與技術(shù)服務(wù)功能
多層鍍層厚度測(cè)量功能（選配）
主要配置
美國(guó)Si-PIN電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器
側(cè)窗鉬（Mo）靶管
標(biāo)配16組復(fù)合濾光片
配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四種準(zhǔn)直器
具備合中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)的樣品混側(cè)功能
內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)工作曲線
配置On-line實(shí)時(shí)在線技術(shù)支持與服務(wù)平臺(tái)
具備開放工作曲線技術(shù)平臺(tái)
分析軟件操作系統(tǒng)分級(jí)管理。
產(chǎn)品參數(shù)
名稱：X熒光光譜儀
型號(hào)：NDA200
輸入電壓：220±5V/50Hz
消耗功率：≤500W
環(huán)境溫度：15-30℃
環(huán)境濕度：≤80%（不結(jié)露）
主機(jī)外形（mm）：長(zhǎng)＊寬＊高＝900*500*440
樣品倉(cāng)（mm）：長(zhǎng)＊寬＊高＝430*380*120
主機(jī)重量：約60公斤
技術(shù)指標(biāo)
元素種類：元素周期表中硫（S）～鈾（U）之間元素
測(cè)量時(shí)間：
對(duì)聚合物材料，典型測(cè)量時(shí)間為200秒
對(duì)銅基體材料，典型測(cè)量時(shí)間為400秒
檢出限指標(biāo)（LOD）：
對(duì)聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg
對(duì)銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg。
RoHS指令篩選檢測(cè)
無(wú)鹵指令篩選檢測(cè)
玩具指令篩選檢測(cè)
金屬鍍層測(cè)厚
合金成分分析
技術(shù)特點(diǎn)
配置新技術(shù)“樣品免拆分”檢測(cè)模式：采用新技術(shù)的光路結(jié)構(gòu)，小照射光斑直徑可0.5mm，輔以的光斑定位系統(tǒng)，從而可以實(shí)現(xiàn)對(duì)復(fù)雜樣品進(jìn)行免拆分直接測(cè)量的要求
配置合中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)的樣品混測(cè)功能：方形4mmX4mm光斑設(shè)計(jì)，配合0.5mm光斑配合使用，能夠?qū)﹄娐钒宓葟?fù)雜樣品實(shí)現(xiàn)“免拆分”區(qū)域掃描測(cè)量功能；從而顯著節(jié)省測(cè)量時(shí)間，大幅度檢測(cè)效率
分析軟件操作系統(tǒng)分級(jí)管理：儀器系統(tǒng)軟件配置了操作員、工程師兩級(jí)操作功能菜單，便于工廠有序管理；操作員菜單簡(jiǎn)單直觀，避免儀器重要參數(shù)的誤修改；工程師菜單大，儀器的各種參數(shù)設(shè)置權(quán)限開放給用戶
采用經(jīng)典的迷宮式輻射護(hù)結(jié)構(gòu)：采用了經(jīng)典的迷宮式輻射護(hù)結(jié)構(gòu)，在保持儀器外形美觀操作方便的同時(shí)，徹底散射X射線的泄露
可選配技術(shù)“影響權(quán)系數(shù)法”多層鍍層測(cè)厚功能：納優(yōu)科技的“影響權(quán)系數(shù)法”多層鍍層測(cè)厚技術(shù)，顯著鍍層厚度測(cè)量的準(zhǔn)確度；可測(cè)量鍍層數(shù)量為9層；徹底解決了常規(guī)XRF測(cè)厚方法所不能解決的塑料基體鍍層厚度測(cè)量的技術(shù)難題
外觀設(shè)計(jì)實(shí)用美觀：合人體工程學(xué)的儀器外形設(shè)計(jì)，操作人員測(cè)量過(guò)程方便舒適
分析方法及系統(tǒng)軟件
分析方法配置：
基于蒙特卡洛計(jì)算模型的基本參數(shù)法
經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法
理論α系數(shù)法
軟件功能描述：
RoHS指令、無(wú)鹵指令等指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
各種金屬材料、無(wú)機(jī)非金屬材料（不包括聚合物材料）的材質(zhì)分析（S～U元素）
聚合物等材料中硫（S）～鈾（U）元素的含量分析
分析的自主定制與輸出打印
分析結(jié)果的保存、查詢及統(tǒng)計(jì)
On-Line實(shí)時(shí)在線技術(shù)支持與技術(shù)服務(wù)功能
多層鍍層厚度測(cè)量功能（選配）
主要配置
美國(guó)Si-PIN電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器
側(cè)窗鉬（Mo）靶管
標(biāo)配16組復(fù)合濾光片
配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四種準(zhǔn)直器
具備合中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)的樣品混側(cè)功能
內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)工作曲線
配置On-line實(shí)時(shí)在線技術(shù)支持與服務(wù)平臺(tái)
具備開放工作曲線技術(shù)平臺(tái)
分析軟件操作系統(tǒng)分級(jí)管理。
產(chǎn)品參數(shù)
名稱：X熒光光譜儀
型號(hào)：NDA200
輸入電壓：220±5V/50Hz
消耗功率：≤500W
環(huán)境溫度：15-30℃
環(huán)境濕度：≤80%（不結(jié)露）
主機(jī)外形（mm）：長(zhǎng)＊寬＊高＝900*500*440
樣品倉(cāng)（mm）：長(zhǎng)＊寬＊高＝430*380*120
主機(jī)重量：約60公斤
技術(shù)指標(biāo)
元素種類：元素周期表中硫（S）～鈾（U）之間元素
測(cè)量時(shí)間：
對(duì)聚合物材料，典型測(cè)量時(shí)間為200秒
對(duì)銅基體材料，典型測(cè)量時(shí)間為400秒
檢出限指標(biāo)（LOD）：
對(duì)聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg
對(duì)銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg。
