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　　X射線熒光分析裝置是使用X射線照射樣品，對(duì)產(chǎn)生的熒光X射線的能量進(jìn)行檢測(cè)，測(cè)定構(gòu)成樣品的元素種類及含量的裝置?？傻剡M(jìn)行固體、粉體、液體、磁盤、單晶片等的元素分析，廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域。是近，以歐盟的報(bào)廢電子電氣設(shè)備指令（WEEE）、電子電氣設(shè)備所含特定有害物質(zhì)限制使用指令（RoHS）、報(bào)廢汽車指令（ELV）以及玩具指令（ASTM　F963，EU_EN71）等法規(guī)為代表的綠色采購(gòu)及環(huán)境分析之中，要求更為微量、更為的分析。
　　為滿足這種需求，的EDX系列了更高的靈敏度與。
　　
　　測(cè)定原理　X射線熒光分析法
　　
　　測(cè)定方法能量色散型
　　
　　測(cè)定對(duì)象固體、液體、粉狀
　　
　　測(cè)定范圍　13Ai~92U
　　
　　樣品室尺寸W370*D320*H155mm
　　
　　測(cè)定ppm級(jí)的有害金屬！
　　應(yīng)對(duì)WEEE＆RoHS、ELV等有害物質(zhì)相關(guān)法規(guī)。
　　應(yīng)對(duì)ASTM　F963，EU_EN71美國(guó)和歐盟的玩具法規(guī)和指令，產(chǎn)品和用料的綠色。
　　
　　X射線熒光分析裝置是使用X射線照射樣品，對(duì)產(chǎn)生的熒光X射線的能量進(jìn)行檢測(cè)，測(cè)定構(gòu)成樣品的元素種類及含量的裝置。可地進(jìn)行固體、粉體、液體、磁盤、單晶片等的元素分析，廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域。是近，以歐盟的報(bào)廢電子電氣設(shè)備指令（WEEE）、電子電氣設(shè)備所含特定有害物質(zhì)限制使用指令（RoHS）、報(bào)廢汽車指令（ELV）以及玩具指令（ASTM　F963，EU_EN71）等法規(guī)為代表的綠色采購(gòu)及環(huán)境分析之中，要求更為微量、更為的分析。
　　為滿足這種需求，的EDX系列了更高的靈敏度與?！?