金埃譜科技是國內(nèi)早參與比表面積標準物質(zhì)標定的機構,測試結果與國外數(shù)據(jù)可比性平行性,并獲取機構的檢測證書,同時金埃譜科技也是國內(nèi)同行業(yè)中注冊資本規(guī)模,通過ISO9001的企業(yè),雄厚實力和完善的質(zhì)量及服務體系,讓您選購的產(chǎn)品無后顧之憂!
全自動靜態(tài)容量法比表面積及孔隙率測定儀性能參數(shù)
測試方法及功能:氮吸附真空容量法(真空靜態(tài)法),吸附及脫附等溫線測定,BJH總孔體積及孔徑分布分析孔隙率測定,樣品真密度測定,t-plot圖法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面積測定(單點及多點),Langmuir法比表面積測定,平均粒徑估算,t−plot圖法外比表面積測定;
測定范圍:0.01(㎡/g)--至無上限(比表面積),0.35nm-400nm(孔徑);
測量:重復性誤差小于1.5%;
真空系統(tǒng):V-Sorb的集裝式管路及電磁閥控制系統(tǒng),大大減小管路體積空間,檢測吸附氣體微量變化的靈敏度,從而孔徑分布測試孔隙率測定的分辨率;同時集裝式管路減少了連接點,大大密封性和儀器使用壽命;
液位控制:V-Sorb的液氮面控制系統(tǒng),測試液氮面相對樣品管位置保持不變,因體積變化引入的測量誤差;
控制系統(tǒng):
采用可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng),高集成度和干擾能力,儀器穩(wěn)定性和使用壽命;
樣品數(shù)量:同時進行2個樣品分析和2個樣品脫氣處理;
壓力測量:采用壓力分段測量的雙壓力傳感器,顯著低 P/Po點下測試,0-1000 Torr(0-133Kpa),0-10 Torr(0-1.33Kpa);
壓力:硅薄膜壓力傳感器,達實際讀數(shù)的0.15%,全量程的0.15%,遠高于皮拉尼電阻真空計(一般誤差為10%-15%);
分壓范圍:P/Po 準確可控范圍達5x10−6−0.995;
限真空:4x10−2Pa(3x10−4Torr);
樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等;
測試氣體:高純N2氣(99.999%)或其它(按需選擇如Ar,Kr);
數(shù)據(jù)采集:高及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,誤差小,干擾能力強;
數(shù)據(jù)處理:Windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件,功能完善,操作簡單,多種模式數(shù)據(jù)分析,圖形化數(shù)據(jù)分析結果報表。