北京羲和陽光科技發(fā)展有限公司
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經(jīng)營模式：工廠
所在地：北京
主營產(chǎn)品：硅料檢測分選儀;硅片電阻率測試儀;薄膜方塊電阻率測試儀;硅芯/硅棒電阻率測試儀;少子壽命測試儀;
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藍寶石膜厚測試儀
■利用反射干涉的原理進行無損測量
■可測量薄膜厚度及光學常數(shù)，測量達到埃級的分辯率
■操作簡單，界面友好，是 目前市場上具性價比的膜厚測量儀設(shè)備
■設(shè)備光譜測量范圍從近紅外到紫外線，波長范圍從200nm 到1700nm可選
■并有手動及自動機型可選，應(yīng)付不同 的研發(fā)或生產(chǎn)要求
| √GaN厚度 | √光阻膠厚度 |
| √SiO2厚度 | √ 穿透率 |
