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半導(dǎo)體器件性能表征系統(tǒng) 型號(hào)：進(jìn)口 該半導(dǎo)體器件性能表征系統(tǒng)是一個(gè)可以提供精密電流源、電壓源和測試功能的測試系統(tǒng)，為半導(dǎo)體器件和測試結(jié)構(gòu)的直流參數(shù)測試、實(shí)時(shí)繪圖與分析提供了一套完整的方案，具有高和亞fA 級(jí)的分辨率，可廣泛應(yīng)用于各類新材料、薄膜材料、異質(zhì)結(jié)構(gòu)等光電子材料及器件的電學(xué)性質(zhì)和物理特性的研究。 | ||
| 特點(diǎn) | ||
| ■直觀的、點(diǎn)擊式Windows 操作環(huán)境； ■獨(dú)特的遠(yuǎn)端前置放大器，將SMU的分辨率擴(kuò)展至0.1fA； ■內(nèi)置PC提供快速的測試設(shè)置、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析、制圖與打印、以及測試結(jié)果的大容量存儲(chǔ)； ■獨(dú)特的瀏覽器風(fēng)格的軟件界面，根據(jù)器件的類型來安排測試； ■支持多種外圍設(shè)備； ■用戶測試模塊功能，可用于外接儀表控制與測試平臺(tái)集成，是KITE功能的擴(kuò)充。 | ||
| 技術(shù)參數(shù) | ||
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■電壓測量范圍：1μV-200V，電壓測量小分辨率為1μV； | ||
| 應(yīng)用 | ||
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北京羲和陽光科技發(fā)展有限公司
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