- 品牌/商標:GOM
- 企業(yè)類型:貿(mào)易商
- 新舊程度:全新
- 原產(chǎn)地:德國
ARAMIS 動態(tài)光學應(yīng)變測量系統(tǒng)
產(chǎn)品開發(fā)的重要環(huán)節(jié)包括:確定結(jié)構(gòu)尺寸、確定材料特性、采用新型材料及改進FE計算模型。而其中至關(guān)重要的是能夠更好地了解材料性能和零件性能,這就對傳統(tǒng)的測量方法提出了新的挑戰(zhàn)。
ARAMIS應(yīng)變測量系統(tǒng)正是實現(xiàn)以上要求的設(shè)備,它采用數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)(DIC),可以測量出零件在靜態(tài)或動態(tài)負載情況下的表面全場的三維變形和應(yīng)變分布。
w 應(yīng)用范圍
ARAMIS 動態(tài)光學應(yīng)變測量系統(tǒng)采用了非接觸式測量,并且可以測量各種材料的變形和應(yīng)變,適用于以下方面:
? 材料測試
? 強度試驗
? 考察零件的非線性變形
? 疲勞實驗
? 確定材料的成型特性曲線(FLC)
w 測量過程
采用一個或多個CCD相機對負載狀態(tài)下的樣件進行測量。首先,將樣件的表面處理成隨機的或規(guī)則的模板圖案,這些模板圖案會隨著樣件的變形而改變。然后,給樣件逐漸施加載荷,采用CCD相機同步進行高頻的采集,獲得每個負載階段的樣件表面圖像。分析軟件會在開始的張圖像中自動定義許多晶格片(facet),作為初始的坐標。在隨后施加負載的過程中,每個階段都采用攝影測量的技術(shù)獲得每個晶格片的新的坐標位置。
w 測量結(jié)果
根據(jù)測量得到的每個階段晶格片坐標值(3D),可以計算出樣件表面各個位置的位移和應(yīng)變,以及形狀,并且具有極高的和分辨率。計算結(jié)果可以用圖形的方式表達,并可輸出為TIFT 或JPEG的文件。另外,數(shù)據(jù)也可以ASCII格式輸出,提供給后期的計算分析。
w 技術(shù)特點
? 樣件準備簡單:
ARAMIS 可以采用隨即或規(guī)則的模板圖案,簡化了樣件的準備工作
? 測量范圍大:測量彈性大,測量范圍從1 mm up 至1000 mm,可測應(yīng)變從0.05% 至100%.
? 完整的圖形化測量結(jié)果:結(jié)果由巨大的數(shù)據(jù)點構(gòu)成,高的點云密度和圖形化顯示,可以幫助更好的了解零件性能。
? 流動式設(shè)計: 相機安放在三角架上,整個測量系統(tǒng)結(jié)構(gòu)緊
湊,配合強大的分析軟件,使ARAMIS具有極高的效率和
靈活性。