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供應(yīng)美國ANASYS 的原子力顯微鏡(AFM+)  可升級的原子力顯微鏡(AFM+)
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供應(yīng)美國ANASYS 的原子力顯微鏡(AFM+) 可升級的原子力顯微鏡(AFM+)

產(chǎn)品價(jià)格:
電議
產(chǎn)品型號:
AFM+
供應(yīng)商等級:
企業(yè)未認(rèn)證
經(jīng)營模式:
代理商
企業(yè)名稱:
瑪瑞柯(上海)貿(mào)易有限公司
所屬地區(qū):
上海市
發(fā)布時(shí)間:
2015/11/24 14:22:27

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李經(jīng)理女士(聯(lián)系我時(shí),請說明是在維庫儀器儀表網(wǎng)看到的,謝謝)

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瑪瑞柯(上海)貿(mào)易有限公司

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Anasys的AFM+可以提供的原子力顯微功能,具有強(qiáng)大的分析能力,使得AFM是一個(gè)成像工具。主要優(yōu)勢方面:
的AFM
  ?包含常規(guī)成像模式
  ?高分辨率低噪音的閉環(huán)成像
 
安裝與操作便捷
  ?AFM+便利的使用而設(shè)計(jì)制造。預(yù)裝的懸臂能夠快速簡便的完成對齊。
  ?可自動(dòng)運(yùn)行的試樣平臺(tái)和高質(zhì)量的棱鏡使得對特定區(qū)域的快速定位分析成為可能
  ?集幾十年AFM設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)之大成,即使初次使用也能快速獲取結(jié)果。
 
由Anasys科研團(tuán)隊(duì)所開發(fā)的強(qiáng)大的納米級定位分析技術(shù)
  ?熱學(xué):具有保護(hù)的ThermaLever探針能夠提供納米熱分析
  ?機(jī)械:洛倫茲接觸共振模式能夠提供寬頻納米機(jī)械分析
  ?化學(xué):改進(jìn)增加了納米紅外光譜,可實(shí)現(xiàn)局部化學(xué)組分分析
 
AFM+  熱分析
納米熱分析(nano-TA)

    基于我們所的熱探針技術(shù),AFM+可以使你獲得樣品任何特征區(qū)域的轉(zhuǎn)變溫度或者轉(zhuǎn)變溫度的掃描圖。

Toner Particle nano-TA2

    上圖為調(diào)色劑顆粒的nano-TA數(shù)據(jù)及其AFM圖像。將顆粒內(nèi)嵌在環(huán)氧樹脂中然后進(jìn)行切片便可得到試樣。試樣的形貌圖顯示了其結(jié)構(gòu)上的多樣性,而這些可以用nano-TA進(jìn)行分析。這是因?yàn)檎{(diào)色劑顆粒包含了大量存在不同的轉(zhuǎn)變溫度的組分(石蠟,樹脂,染料等等)。
 
掃描熱顯微鏡(SThM)
    AFM+的這一模式允許用戶將試樣的導(dǎo)熱系數(shù)和溫度梯度成比例的進(jìn)行成像分析。

SThM Image of carbon fiber sample

    上圖所示的是利用AFM+系統(tǒng)的掃描熱顯微鏡功能所繪制的碳纖維增強(qiáng)環(huán)氧樹脂復(fù)合材料的圖像,其中表征區(qū)域大小為4μm×8μm。測試前,需要對試樣進(jìn)行切削打磨以形成一個(gè)光滑的平面。高度影像(左側(cè))顯示了若干根碳纖維,而SThM圖像(右側(cè))則顯示了在兩個(gè)材料上探針溫度的變化。這是由兩種材料不同的導(dǎo)熱系數(shù)所產(chǎn)生的。這個(gè)例子充分展示了SThM技術(shù)的高橫向分辨率。
 
轉(zhuǎn)變溫度顯微鏡
    轉(zhuǎn)變溫度顯微鏡(TTM)是一個(gè)全自動(dòng)化模式。它能夠快速的完成一系列nanoTA測試,并自動(dòng)分析溫度變化曲線獲得試樣的轉(zhuǎn)變溫度。

Transition Temperature Microscopy Image

    上圖是具有紋理結(jié)構(gòu)的左旋聚乳酸球粒的光學(xué)圖像和TTM圖像。TTM圖像由XY移動(dòng)載物臺(tái)繪制而成。TTM圖像中的藍(lán)域代表PLLA的無定形區(qū),而紅色和黃色則是結(jié)晶區(qū)。在結(jié)晶過程中反復(fù)改變溫度會(huì)導(dǎo)致結(jié)晶度的高低變化,終形成了洋蔥狀結(jié)構(gòu)的球粒。該樣品是由東京技術(shù)研究所的J. Morikawa提供。
 
可升級的分析能力
AFM+IR 光譜

  ?點(diǎn)擊式的納米紅外光譜
  ?與FTIR譜庫相關(guān)的紅外光譜
  ?化學(xué)成像

    上圖為鏈霉菌的形貌圖以及在1650cm-1和1740cm-1處的紅外掃描圖。在生長后期,這些細(xì)菌形成了充滿脂質(zhì)的囊泡。因此,通過分析1740cm-1處的脂類特征吸收峰,研究人員可以確定這些囊泡的位置。NanoIR的分辨率能夠100nm以下。
 
AFM+  機(jī)械性能分析
    采用接觸共振法,AFM+能夠檢測到材料的硬度變化及其表面形貌,從而反映出試樣的機(jī)械性能。

AFM topographical and mechanical image

    上圖為三元共混聚合物的形貌圖和硬度掃描圖。通過分析懸臂的接觸共振能夠檢測到模量的變化從而繪制出硬度掃描圖。從硬度掃描圖中能夠清楚的區(qū)分開三種材料。
 
多功能納米檢測工具
    新一代AFM+可以升級到nanoIR系統(tǒng)——一款基于探針且可利用紅外光譜在納米尺度下表征試樣化學(xué)組成的檢測工具。NanoIR也可對特定區(qū)域的形貌,機(jī)械性能和熱性能進(jìn)行高分辨率表征。NanoIR的潛在應(yīng)用領(lǐng)域橫跨聚合物學(xué),材料科學(xué)和生命科學(xué)以及對結(jié)構(gòu)和性能相關(guān)性的深入研究等方面。

Multifuntional

    上圖為nanoIR系統(tǒng)的多功能檢測示例。試樣是由聚乙烯和聚丙烯構(gòu)成的多層結(jié)構(gòu)薄膜。根據(jù)它們特定的吸收譜帶,nanoIR系統(tǒng)能夠清楚的區(qū)分開這兩種材料。此外,nanoIR也能夠檢測出兩種材料不同的硬度和轉(zhuǎn)變溫度。


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