- 產(chǎn)品品牌:
- JEOL日本電子
- 產(chǎn)品型號(hào):
- EM-09100IS
- 類型:
- 電子顯微鏡
用于TEM / STEM / SEM / EPMA / AUGER的創(chuàng)新的樣品制備方法
利用離子切片儀除了需要將樣品切成矩形薄片外不需要常規(guī)的透射電鏡制樣過(guò)程(電解液或前期處理的手工研磨,凹坑機(jī)研磨)可直接制備薄膜樣品
離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)的制備工具快速,簡(jiǎn)單. 低能量,低角度(0° 到 6°)的氬氣離子束通過(guò)遮光帶照射樣品,徹底消除離子束對(duì)樣品的損傷.即使是柔軟的材料,樣品制備質(zhì)量也極好.離子切片儀能夠有效制備不同成份的樣品甚至含有多孔合成物.
特點(diǎn):
- 高質(zhì)量的透射電鏡前期制備
- 快速加工
- 無(wú)需復(fù)雜前處理
- 小限度表面損傷